[发明专利]一种多功能SF6气体中分解产物各组分的综合分析仪在审

专利信息
申请号: 201910791924.0 申请日: 2019-08-26
公开(公告)号: CN110553986A 公开(公告)日: 2019-12-10
发明(设计)人: 马垚;彭波;毛安星;滕云学;李磊;王曦瑶;王瑜;赵博;徐怿;刘畅;要新占;孟宪忠 申请(专利权)人: 国网吉林省电力有限公司四平供电公司;河北如电电气设备有限公司
主分类号: G01N21/31 分类号: G01N21/31;G01N21/01
代理公司: 11491 北京国坤专利代理事务所(普通合伙) 代理人: 赵红霞
地址: 136000 吉林*** 国省代码: 吉林;22
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摘要:
搜索关键词: 数据处理组件 电化学组件 分解产物 光谱组件 过滤组件 计量组件 分路 进气 冷镜 微水 输出组件 电连接 电化学传感器 红外吸收光谱 紫外吸收光谱 综合分析仪 待测气体 进气管路 检测
【权利要求书】:

1.一种多功能SF6气体中分解产物各组分的综合分析仪,其特征在于,包括进气及过滤组件(1)、气体分路计量组件(2)、光谱组件(3)、电化学组件(4)、冷镜微水组件(5)、数据处理组件(6)和总数据输出组件(7),待测气体通过进气管路连接进气及过滤组件(1),进气及过滤组件(1)连接气体分路计量组件(2),气体分路计量组件(2)分别连接光谱组件(3)和冷镜微水组件(5),所述光谱组件(3)连接电化学组件(4),电化学组件(4)和冷镜微水组件(5)一起电连接于数据处理组件(6),所述数据处理组件(6)电连接于总数据输出组件(7),其中,

进气及过滤组件(1)过滤可能的大颗粒杂质,以免杂质对后续气路及检测组件产生破坏,进气及过滤组件(1)为物理过滤,对气体内各组分无任何影响,不影响组分分析数据;

气体分路计量组件(2)气路分为两路,一路为组分分析气路,一路为水分检测气路,每条气路单独计量气量;

样气在光谱组件(3)内,经双波段光线照射,检出CF4和预判其余组分含量;

光谱组件(3)之后的样气进入电化学组件(4),如果样气含有某分解产物组分,则相应电化学传感器会输出对应的信号;

单独的一路样气经过冷镜微水组件(5),在仪器控制下持续降温,直到由光学传感器检测到镜面结露,则当时温度为露点数据,根据不同露点对应不同含水量,得出含水量数据;

数据处理组件(6)和总数据输出组件(7)将各传感器和组件的数据进行分析处理并输出。

2.根据权利要求1所述的一种多功能SF6气体中分解产物各组分的综合分析仪,其特征在于,所述气体分路计量组件(2)包括成分计量通道和微水计量通道,成分计量通道与样气在光谱组件(3)连接,微水计量通道和冷镜微水组件(5)连接。

3.根据权利要求1所述的一种多功能SF6气体中分解产物各组分的综合分析仪,其特征在于,所述光谱组件(3)包括光源组件(31)、分光组件(32)、吸收组件(33)和检测组件A(34),红外光源和紫外光源经过光源组件(31)的处理进入侧面的分光组件(32),经过分光组件(32)的反射将红外光束和紫外光束投射到吸收组件(33),吸收组件(33)的下方设置检测组件A(34)。

4.根据权利要求3所述的一种多功能SF6气体中分解产物各组分的综合分析仪,其特征在于,所述光源组件(31)包括反射镜A(311)、狭缝光栅A(312)、衍射光栅(313)和狭缝光栅B(314);

所述分光组件(32)包括反射镜B(321)、半反射镜(322)、反射镜C(323)和反射镜D(324);

所述吸收组件(33)内置吸收池(331);

所述检测组件A(34)包括晶体滤镜A(341)、晶体滤镜B(342)、光电检测A(343)和光电检测B(344)。

5.根据权利要求1所述的一种多功能SF6气体中分解产物各组分的综合分析仪,其特征在于,所述电化学组件(4)包括气体分路和计量组件(41)、气体通道(42)、传感器阵列(43)和数据输出组件(44),样气通道依次经过气体分路和计量组件(41)、气体通道(42)和传感器阵列(43),最后经过数据输出组件(44)。

6.根据权利要求5所述的一种多功能SF6气体中分解产物各组分的综合分析仪,其特征在于,所述传感器阵列(43)现阶段预置10种,现装7种,三种传感器位置预留。

7.根据权利要求1所述的一种多功能SF6气体中分解产物各组分的综合分析仪,其特征在于,所述冷镜微水组件(5)由冷镜组件(51)和检测组件(52)组成。

8.根据权利要求7所述的一种多功能SF6气体中分解产物各组分的综合分析仪,其特征在于,所述冷镜组件(51)由组件基座(511)、半导体制冷片(512)、导热测温组件(513)和制冷镜面(514)组成,所述制冷镜面(514)粘贴在导热测温组件(513)上,导热测温组件(513)粘贴在半导体制冷片(512)上,半导体制冷片(512)设置在组件基座(511)上。

9.根据权利要求7所述的一种多功能SF6气体中分解产物各组分的综合分析仪,其特征在于,所述检测组件B(52)由照射光源(521)、均光组件(522)、光学结露检测组件(523)组成,均光组件(522)和光学结露检测组件(523)粘贴在一起,均光组件(522)的上方设置照射光源(521)。

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