[发明专利]一种基于光度立体技术和结构光技术相结合的产品合格率的检测系统及其检测方法

权利要求书

1.一种基于光度立体技术和结构光技术相结合的产品合格率的检测系统，其特征在于，该系统包括光度立体系统和结构光系统；

所述的光度立体系统包括光源控制开关、照明光源、摄像机、图像采集卡A和计算机；所述的照明光源与所述的光源控制开关电性连接；所述的图像采集卡A为相机SSD卡，用于储存摄像机采集的图像信号并将所述的图像信号以以帧为单位传送到计算机的内存和VGA帧存，供计算机处理、存储、显示和传输使用；

所述的结构光系统包括面阵CCD摄像机、图像采集卡B、长焦镜头、LED投影仪和计算机，所述的LED投影仪与所述计算机通过网络信号连接；所述的图像采集卡B为相机SSD卡，用于储存CCD摄像机采集的图像信号并将所述的图像信号以以帧为单位传送到计算机的内存和VGA帧存，供计算机处理、存储、显示和传输使用。

2.根据权利要求1所述的基于光度立体技术和结构光技术相结合的智能工业检测系统，其特征在于：所述的照明光源共设置有若干个，用于同时对物体照射；所述的光源控制开关可分别对每个照明光源的点亮和熄灭进行控制。

3.根据权利要求1所述的基于光度立体技术和结构光技术相结合的智能工业检测系统，其特征在于，所述的结构光系统内的投影仪用于投射一组光强呈正弦变化的光栅图像；所述的CCD摄像机用于拍摄物体表面起伏而发生变形的光栅图像。

4.一种基于光度立体技术和结构光技术相结合的产品合格率的检测方法，包括使用权利要求1-3任意一项所述的基于光度立体技术和结构光技术相结合的产品合格率的检测系统检测产品优劣，其特征在于，该方法具体包括如下步骤：

S1、通过结构光系统测量出物体表面三维点；

S2、通过三维点计算每一点的法向量N^p，同时通过光度立体系统计算出每一点的法向量N^m；

S3、分别对N^p和N^m进行高斯滤波，得到相应的低频数据S(N^P)和S(N^m)；

S4、计算从N^m变换到S(N^m)的旋转矩阵R，得到修正后的物体表面法向量N^c＝RS(N^p)；

S5、用修正后的表面法向量计算三维数据；

S6、通过S5中得到的三维数据重建产品表面形状；

S7、根据分析对比产品表面形状判断产品的优劣。