[发明专利]一种芯片三维多面之间的键合互连方法有效

专利信息
申请号: 201910793398.1 申请日: 2019-08-27
公开(公告)号: CN110690128B 公开(公告)日: 2021-11-02
发明(设计)人: 李波;夏俊生;臧子昂;李文才 申请(专利权)人: 华东光电集成器件研究所
主分类号: H01L21/60 分类号: H01L21/60;H01L21/48
代理公司: 安徽省蚌埠博源专利商标事务所(普通合伙) 34113 代理人: 陈俊
地址: 233030 安徽省*** 国省代码: 安徽;34
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摘要:
搜索关键词: 一种 芯片 三维 多面 之间 互连 方法
【说明书】:

本发明公开一种芯片三维多面之间的键合互连方法,包括:a、在三维多面电路基板的侧边制作基片侧连PAD;基片侧连PAD作为相邻电路基板相互键合的媒介;通过基片侧连PAD,使相邻电路基板间的三维键合转化为二维键合,利用平面键合工艺即实现相邻电路基板间的键合;b、将引线柱的外圆面制作出平面,形成引线柱PAD,引线柱PAD与相对应的电路基板相平行,使引线柱与电路基板间的三维键合转化为二维键合,利用平面键合工艺即实现引线柱与相对应电路基板间的键合;本发明基于常规成熟的平面键合连线工艺,通过将三维键合转化为二维键合,实现不同维度面之间的键合互连,且不形成三维键合线弧或三维焊接线弧,提高键合质量。

技术领域

本发明涉及微电路组封装技术领域,具体是一种芯片三维多面之间的键合互连方法。

背景技术

近年来,随着微电子技术的发展,叠层封装(POP)、系统级封装(SIP)等三维封装技术取代了单芯片封装,大幅提高了芯片封装密度,减少了封装尺寸和重量,但由于这些技术均采用了同维度二维平面键合技术(键合实现同平面内,芯片之间、芯片与导带、导带与外引线柱端面),受制于此,无法实现不同维度面之间键合连线,限制了封装尺寸、成本和可靠性的进一步提升。

目前,发展出了三维六面立体组装结构,其中5个面安装电路,1个面安装电路外接引线柱。该结构进一步降低了电路封装尺寸,提高了电路散热、粘接强度等可靠性,6个面中,面与面之间的连接主要有以下2种方式:

一、三维线弧键合法

例如《一种面向MEMS的三维封装装置及三维封装方法》(公开号CN201610108660)”的中国专利,其主要原理为,在完成MEMS器件一个面第一点键合后,通过固定器件的装置的旋转和定位,将第二键合点所在平面旋转至键合劈刀下方,精确定位后,完成第二点键合,最终形成跨越2个维度的三维线弧。

该种键合方法有以下缺点:

a) 跨越2个维度的三维线弧,弧度较高、键合线较长,难以满足高过载要求,需要封装尺寸较大;

b)上述工装要实现同轴旋转后移动定位,同时还应具有加热和温控功能(对于金丝球键合),制作复杂、成本高;

c)顶面、底面(一般为旋转轴垂直的两个面),与其它相邻面键合连线,由于翻转困难,较难实现。

二、焊接飞线互连法

跨维度连线也有采用焊接飞线方式实现,即通过镀银铜线或导线烙铁锡焊方式,形成跨越2个维度的三维飞线,实现电性能连接。

该种键合方法具有以下缺点:

a) 多采用烙铁焊接,焊接效率低;

b) 焊接需要较大焊接空间,需要封装尺寸较大;

c) 焊接需要额外助焊剂清洗,带来工艺复杂性。

发明内容

本发明的目的在于提供一种芯片三维多面之间的键合互连方法,该方法能够实现不同维度面之间的键合互连,且不形成三维键合线弧或三维焊接线弧,提高键合质量。

本发明解决其技术问题所采用的技术方案是:

一种芯片三维多面之间的键合互连方法,包括:

a、通过成膜工艺,在三维多面电路基板的侧边制作基片侧连PAD;基片侧连PAD作为相邻电路基板相互键合的媒介;通过基片侧连PAD,使相邻电路基板间的三维键合转化为二维键合,利用平面键合工艺即实现相邻电路基板间的键合;

b、将引线柱的外圆面制作出平面,形成引线柱PAD,引线柱PAD与相对应的电路基板相平行,使引线柱与电路基板间的三维键合转化为二维键合,利用平面键合工艺即实现引线柱与相对应电路基板间的键合。

本发明的有益效果是,

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