[发明专利]超声探头的故障检测方法及装置

权利要求书

1.一种超声探头的故障检测方法，其特征在于，包括：

获取自向超声探头的待测阵列单元充电开始起，至所述待测阵列单元输出的电压达到预定的目标电压所需的实际充电时间；所述超声探头包括压电晶片、声阻尼块、耦合层、声透镜和导线；

根据所述实际充电时间获得实际参数，并检测所述实际参数与标准参数是否一致，其中，所述标准参数用于表征阵列单元未发生故障，所述实际参数与所述标准参数的类型相同；

若所述实际参数和所述标准参数一致，则判定所述待测阵列单元未发生故障，否则，判定所述待测阵列单元发生故障；

所述获取自向超声探头的待测阵列单元充电开始起，至所述待测阵列单元输出的电压达到预定的目标电压所需的实际充电时间，包括：

自超声探头的待测阵列单元开始充电时启动计时，并实时获取所述待测阵列单元当前输出的电压；

将所述待测阵列单元当前输出的电压与所述目标电压进行比较；

若所述待测阵列单元当前输出的电压小于所述目标电压，则再次执行所述将所述待测阵列单元当前输出的电压与所述目标电压进行比较的步骤，直至所述待测阵列单元输出的电压达到所述目标电压，则停止计时；

将停止计时后的计时结果作为所述实际充电时间；

所述检测所述实际参数与标准参数是否一致，包括：

将所述实际参数转换为电压信号，输入到第一比较器的同相端和第二比较器的反相端，所述第一比较器连接下限值，所述第二比较器的同相端连接上限值，所述下限值和所述上限值构成所述标准参数对应的误差范围；

所述第一比较器和所述第二比较器的输出端均连接至与门，在所述实际参数大于所述下限值且小于所述上限值时，所述与门输出高电平，则所述实际参数与所述标准参数一致；在所述实际参数小于所述下限值或者大于所述上限值时，所述与门输出低电平，则所述实际参数与所述标准参数不一致。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述标准参数为标准充电时间；所述根据所述实际充电时间获得实际参数，并检测所述实际参数与标准参数是否一致，包括：

将所述实际充电时间作为所述实际参数，并检测所述实际充电时间与所述标准充电时间是否一致；

所述若所述实际参数和所述标准参数一致，则判定所述待测阵列单元未发生故障，否则，判定所述待测阵列单元发生故障，包括：

若所述实际充电时间和所述标准充电时间一致，则判定所述待测阵列单元未发生故障，否则，判定所述待测阵列单元发生故障。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述标准参数为标准容值；所述根据所述实际充电时间获得实际参数，并检测所述实际参数与标准参数是否一致，包括：

根据所述实际充电时间，计算获得所述待测阵列单元的实际容值；

检测所述实际容值与所述标准容值是否一致；

所述若所述实际参数和所述标准参数一致，则判定所述待测阵列单元未发生故障，否则，判定所述待测阵列单元发生故障，包括：

若所述实际容值与所述标准容值一致，则判定所述待测阵列单元未发生故障，否则，判定所述待测阵列单元发生故障。