[发明专利]一种用于共形光学元件的面形测量装置及方法有效

专利信息
申请号: 201910795981.6 申请日: 2019-08-27
公开(公告)号: CN110455246B 公开(公告)日: 2020-11-03
发明(设计)人: 居冰峰;张文浩;杜慧林;孙安玉 申请(专利权)人: 浙江大学
主分类号: G01B21/20 分类号: G01B21/20
代理公司: 杭州求是专利事务所有限公司 33200 代理人: 忻明年
地址: 310027 浙*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 一种 用于 光学 元件 测量 装置 方法
【权利要求书】:

1.一种用于共形光学元件的面形测量装置,其特征在于包括水平基座(1)、龙门式测量平台(2)、X轴直线运动台(3)、Z轴直线运动台(4)、探头转台(5)、距离传感器(6)、工件转台(8)、计算机(9);

所述龙门式测量平台(2)安装在所述水平基座(1)上,所述龙门式测量平台(2)含4个运动自由度;所述X轴直线运动台(3)安装于所述龙门式测量平台(2)的横梁上,可在水平面内运动;所述Z轴直线运动台(4)固定于所述X轴直线运动台(3)上,可在垂直面内运动;所述探头转台(5)安装于所述Z轴直线运动台(4)底端,所述距离传感器(6)固定在所述探头转台(5)上,随所述探头转台(5)转动而摆动;所述工件转台(8)固定在所述水平基座(1)上,所述工件转台(8)的回转轴线与所述传感器(6)轴线在同一水平面上;所述计算机(9)连接并控制所述X轴直线运动台(3)、Z轴直线运动台(4)、探头转台(5)、距离传感器(6)和工件转台(8);

装置的实现方法,包括如下步骤:

步骤1.将被测共形光学元件(7)置于所述工件转台(8)上,并调整被测共形光学元件(7)对称轴线与所述工件转台(8)回转轴线使两轴线一致,调整完成后固定工件;

步骤2.将共形光学元件轮廓方程参数输入所述计算机(9),在计算机中将共形光学元件的轮廓方程向外扩展等同于距离传感器(6)参考距离的长度,得到沿共形光学元件母线的扫描轨迹;在扫描轨迹上等间距取扫描点,根据各点切向量求取对应法向量,所求法向量方向即为距离传感器姿态方向;在法向上取与探头长度相等的距离,即得到对应的距离传感器位置;结合各轴相对位置关系,即可求取扫描过程中的各轴位置数据;

步骤3.通过所述计算机(9)调整所述X轴直线运动台(3)、Z轴直线运动台(4)和探头转台(5)的位置,使所述距离传感器(6)以所求取扫描轨迹对应的起始姿态指向生成的扫描轨迹起点;

步骤4.通过所述计算机(9)启动所述工件转台(8),带动所述被测共形光学元件(7)进行旋转运动;

步骤5.启动所述X轴直线运动台(3)、Z轴直线运动台(4)和探头转台(5),通过所述计算机(9)向各运动轴输送控制指令控制所述距离传感器(6)沿所述被测共形光学元件(7)母线进行跟踪式扫描;

步骤6.运动过程中由所述计算机(9)持续采集各运动轴位置数据与所述距离传感器(6)的输出数据,直至所述距离传感器(6)扫描运动结束;

步骤7.当所述距离传感器(6)运动至扫描轨迹终点后所述计算机(9)控制所述X轴直线运动台(3)、Z轴直线运动台(4)、探头转台(5)和所述工件转台(8)停止运动,并停止数据采集;所述计算机(9)中保存整个测量过程中所述X轴直线运动台(3)、Z轴直线运动台(4)、探头转台(5)和所述工件转台(8)位置数据与所述距离传感器(6)的输出数据;

步骤8.结合各运动轴相互坐标关系以及所采集数据计算出被测点三维坐标,将所有测量点在同一坐标系下构建坐标点云,滤波插值后得到被测共形光学元件三维面形;

步骤9.求所测共形光学元件测得的三维面形与其设计面形差值,得到面形偏差,完成测量。

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