[发明专利]电磁调控轧辊调控能力综合测试平台及测试方法有效

专利信息
申请号: 201910797166.3 申请日: 2019-08-27
公开(公告)号: CN110508627B 公开(公告)日: 2020-07-03
发明(设计)人: 杜凤山;曲春涛;杨庭松;郑义;许志强;孙静娜 申请(专利权)人: 燕山大学
主分类号: B21B38/12 分类号: B21B38/12;B21B37/30;B21B38/00;B21B38/04
代理公司: 北京孚睿湾知识产权代理事务所(普通合伙) 11474 代理人: 王冬杰
地址: 066004 河北省*** 国省代码: 河北;13
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摘要:
搜索关键词: 电磁 调控 轧辊 能力 综合测试 平台 测试 方法
【权利要求书】:

1.一种电磁调控轧辊调控能力综合测试平台,其特征在于:其包括变频电源、张力卷曲机构、输送辊机构、转速传感器、张力计、板速度计、板厚仪、夹送辊、轧机主体、AGC板厚控制系统、PLC张力控制系统和辊型曲线计算装置;

电磁调控轧辊调控能力综合测试平台采用左右对称结构,平台两侧远端设有张力卷曲机构,以模式配合的形式协调运转,用于实现板形电磁调控综合测试平台的张力构建;输送辊机构布置在张力卷曲机构与轧机主体之间,其轴承座下部设有转速传感器和张力计,可测量实时的输送辊转速及张力;板速度计布置于输送辊机构与轧机主体之间,用于两侧实时板速测量;板厚仪布置于板速度计与轧机主体之间,可实现两侧板厚测量,夹送辊布置于板厚仪与轧机主体之间,用于调整轧件水平及轧制导向;

轧机主体至少包括上辊高精度位移传感器、上轧辊主体、下轧辊主体、内置电磁棒和下辊高精度位移传感器,内置电磁棒位于下轧辊主体或者上轧辊主体芯部的轴向通孔内,所述内置电磁棒为电磁调控胀形源,与所述变频电源连接;上轧辊主体最高点及下轧辊主体最低点所对应的母线上分别布置有n个上辊高精度位移传感器及下辊高精度位移传感器,n为正整数;所述上辊高精度位移传感器和下辊高精度位移传感器都呈等间距线性阵列布置,所述上辊高精度位移传感器和下辊高精度位移传感器的测量值,经辊型曲线计算装置计算求导得出挠曲下的辊型曲线;

板速度计、板厚仪、轧机主体和变频电源均连接至AGC板厚控制系统,AGC板厚控制系统又与PLC张力控制系统相连接;AGC板厚控制系统实时计算出压扁加挠曲共同作用下的辊型曲线,使用压下量对轧机主体进行辊缝形状控制,进而控制板厚,同时根据板厚仪实时反馈的板厚信息,以及板速度计实时反馈的板速信息,给出调整后的电磁调控参数发送至变频电源,变频电源进行参数重调实现辊型电磁调控,协助调节辊缝,进而调控板型;

PLC张力控制系统与所述AGC板厚控制系统相连,利用实时数据传输完成微尺度变张力调控,实现板形闭环调控机制。

2.根据权利要求1所述的电磁调控轧辊调控能力综合测试平台,其特征在于:

所述张力卷曲机构包括左侧张力卷曲机构和右侧张力卷曲机构,所述输送辊机构包括左侧输送辊和右侧输送辊,所述转速传感器包括左侧转速传感器和右侧转速传感器,张力计包括左侧张力计和右侧张力计,板速度计包括左侧板速度计和右侧板速度计,板厚仪包括左侧板厚仪和右侧板厚仪,夹送辊包括左侧夹送辊和右侧夹送辊;

所述左侧张力卷曲机构和右侧张力卷曲机构分别位于平台两侧;所述左侧输送辊位于左侧张力卷曲机构和轧机主体之间,左侧输送辊的轴承座下部设有左侧转速传感器和左侧张力计,右侧输送辊位于右侧张力卷曲机构和轧机主体之间,右侧输送辊的轴承座下部设有右侧转速传感器和右侧张力计;所述左侧板速度计位于左侧输送辊与轧机主体之间,所述右侧板速度计位于右侧输送辊与轧机主体之间;所述左侧板厚仪位于左侧板速度计与轧机主体之间,右侧板厚仪位于右侧板速度计与轧机主体之间;左侧夹送辊位于左侧板厚仪与轧机主体之间,右侧夹送辊位于右侧板厚仪与轧机主体之间。

3.根据权利要求1所述的电磁调控轧辊调控能力综合测试平台,其特征在于:

所述内置电磁棒包括上辊内置电磁棒和下辊内置电磁棒,上辊内置电磁棒位于上轧辊主体芯部的轴向通孔内,下辊内置电磁棒位于下轧辊主体芯部的轴向通孔内。

4.根据权利要求1所述的电磁调控轧辊调控能力综合测试平台,其特征在于:所述上辊高精度位移传感器和下辊高精度位移传感器的测量值,具体为:

所述上辊高精度位移传感器和下辊高精度位移传感器都以激光信号形式采集数据,所述上辊高精度位移传感器的激光点对应上轧辊主体最高点的母线,所述下辊高精度位移传感器的激光点对应下轧辊主体最低点的母线,上辊高精度位移传感器和下辊高精度位移传感器以激光信号形式采集的位移数据就是它们的测量值。

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