[发明专利]结构光测深系统、测量信息码深度的方法及数据处理方法

权利要求书

1.一种结构光测深系统，其特征在于，包括：

发射激光器，用于发射结构光，所述结构光以预设入射角度照射于位于水平面上的内置有信息码的透明基板表面，所述预设入射角度大于零小于90度；

第一成像装置，位于所述结构光的反射光路上，用于获取经所述透明基板反射的结构光的结构光图像，并将所述结构光图像传输给PC终端；

点光源，与所述透明基板位于同一水平面，用于发射照明光，以照亮所述透明基板内的信息码；

第二成像装置，位于垂直于所述透明基板的Z轴方向上，可相对于Z轴方向上下移动，用于根据所述PC终端的控制获取不同位置处的信息码图像，并将获取到的不同位置处的信息码图像传输给所述PC终端；

所述PC终端，用于根据所述结构光图像确定所述透明基板上表面的位置，并控制所述第二成像装置从所述上表面的位置开始，按照预设间距从上至下移动，以获取不同位置处的信息码图像，以及还用于根据所述第二成像装置获取到的不同位置处的信息码图像确定获取所述信息码的最佳聚焦位置，并根据所述最佳聚焦位置计算出所述信息码所在位置到所述透明基板上表面的距离。

2.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述发射激光器相对于所述透明基板成45度安装，使得所述结构光以45度入射角照射于所述透明基板表面。

3.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述第一成像装置的镜头放大倍率小于所述第二成像装置的镜头放大倍率。

4.根据权利要求3所述的系统，其特征在于，所述第一成像装置的镜头为4倍远心镜头，和/或所述第二成像装置的镜头为10倍远心镜头。

5.一种测量信息码深度的方法，其特征在于，应用于如权利要求1-4中任一项所述的结构光测深系统，所述方法包括：

利用发射激光器发射以预设入射角度照射于内置有信息码的透明基板表面的结构光；

利用第一成像装置获取经所述透明基板反射的结构光的结构光图像，并根据所述结构光图像确定所述透明基板上表面的位置；

利用点光源发射照明光，以照亮所述透明基板内的信息码；

利用第二成像装置从所述上表面的位置开始，按照预设间距从上至下移动，以获取不同位置处的信息码图像；

根据获取到的不同位置处的信息码图像确定获取所述信息码的最佳聚焦位置，并根据所述最佳聚焦位置计算出所述信息码所在位置到所述透明基板上表面的距离。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，在利用第一成像装置获取经所述透明基板反射的结构光的结构光图像之前，所述方法还包括：

确定所述发射激光器相对于所述透明基板成预设角度安装，以及确定所述第一成像装置位于所述结构光的反射光路上，其中，所述预设角度与所述预设入射角度互为余角。

7.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，在利用第二成像装置从所述位置处开始，按照预设间距从上至下移动，以获取不同位置处的信息码图像之前，所述方法还包括：

确定所述第二成像装置与所述透明基板上表面的位置齐平。

8.一种数据处理方法，其特征在于，应用于如权利要求1-4中任一项所述的结构光测深系统中的PC终端，所述结构光测深系统还包括：点光源和第二成像装置，所述点光源与透明基板位于同一水平面，用于发射照明光以照亮所述透明基板内的信息码；所述第二成像装置位于垂直于所述透明基板的Z轴方向上，可相对于Z轴方向上下移动，用于根据所述PC终端的控制在不同位置处获取对应位置处的信息码图像；所述方法包括：

接收来自于所述第二成像装置获取到的不同位置处的信息码图像；

根据所述不同位置处的信息码图像确定获取所述信息码的最佳聚焦位置；

根据所述最佳聚焦位置计算出所述信息码所在位置到所述透明基板上表面的距离。