[发明专利]一种基于线特征匹配的液晶屏Mark点定位方法有效
申请号: | 201910799937.2 | 申请日: | 2019-08-28 |
公开(公告)号: | CN110533647B | 公开(公告)日: | 2023-02-03 |
发明(设计)人: | 宫俊;梁赛赛 | 申请(专利权)人: | 东北大学 |
主分类号: | G06T7/00 | 分类号: | G06T7/00;G06T7/73;G06V20/10;G06V10/44 |
代理公司: | 沈阳东大知识产权代理有限公司 21109 | 代理人: | 李在川 |
地址: | 110819 辽宁*** | 国省代码: | 辽宁;21 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 特征 匹配 液晶屏 mark 定位 方法 | ||
1.一种基于线特征匹配的液晶屏Mark点定位方法,其特征在于,包括以下步骤:
步骤1:获取模板图像与液晶屏目标位置,用工业相机拍摄下待检测液晶屏含有Mark点区域的图像为标准图像,从标准图像中手工截取包含Mark点的区域图像作为模板图像,通过手动操作调整液晶屏至合适位置,并标记Mark点在相机图像中的位置坐标为液晶屏目标位置;
步骤2:标记模板图像的Mark点坐标,首先在模板图像上建立模板坐标系,然后在所述模板坐标系中手工标记Mark点位置并记录坐标值;
步骤3:模板图像线段的提取与描述,通过EDLine算法提取模板图像中的线段,并通过BLBD算法计算出所述模板图像中线段的描述符,并通过所述描述符来表征线特征;
步骤4:获取目标图像,通过工业相机拍摄下待检测液晶屏含有Mark点的图像为目标图像,并在所述目标图像上建立图像坐标系;
步骤5:目标图像线段的提取与描述,通过EDLine算法提取目标图像中的线段,并通过BLBD算法计算出所述目标图像中线段的描述符,使用该描述符来表征线特征;
步骤6:线特征匹配,采用类似SIFT算法计算欧氏距离,并通过对比最近距离与次近距离的方法计算得到所述模板图像与目标图像中对应线段的线特征匹配对;
步骤7:分别计算模板图像与目标图像的匹配点,根据步骤6计算得到的线段匹配对中所述线段所在直线的两两交点得到模板图像与目标图像中所有线段匹配对的交点,所述交点即为模板图像与目标图像的匹配点;
步骤8:计算单应性矩阵,根据步骤7计算得到的点匹配对,通过调用单应性矩阵求取算法计算出模板图像到目标图像的单应性矩阵,通过所述单应性矩阵计算得到模板图像上的每一点在目标图像上对应的映射点;
步骤9:定位到目标图像中Mark点坐标,通过所述单应性矩阵计算出模板图像中标记的Mark点在目标图像中的映射位置,所述映射位置即为目标图像中的Mark点坐标;
步骤10:计算待检测液晶屏的位置偏差与角度偏差,重复上述获取目标图像中的Mark点坐标的步骤4~步骤9,计算出另一个Mark点坐标,通过两个Mark点坐标即可准确计算液晶屏的位置,实现液晶屏定位,根据步骤1所述的液晶屏目标位置,即可计算出液晶屏位置偏差与角度偏差。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于东北大学,未经东北大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201910799937.2/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种基于物体检测的货架检出方法
- 下一篇:一种黑头识别处理方法及系统