[发明专利]利用回音壁模式激光光源测FP透过率曲线的装置和方法在审
申请号: | 201910800131.0 | 申请日: | 2019-08-28 |
公开(公告)号: | CN110530609A | 公开(公告)日: | 2019-12-03 |
发明(设计)人: | 刘东;储玉飞;王英俭;吴德成;王珍珠;邢昆明;况志强;王邦新;钟志庆;范爱媛;谢晨波 | 申请(专利权)人: | 中国科学院合肥物质科学研究院 |
主分类号: | G01M11/02 | 分类号: | G01M11/02 |
代理公司: | 51270 成都瑞创华盛知识产权代理事务所(特殊普通合伙) | 代理人: | 邓瑞;辜强<国际申请>=<国际公布>=< |
地址: | 230088 安徽省合肥市蜀*** | 国省代码: | 安徽;34 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 分束器 光谱仪 光纤 光圈 透镜 分光镜 偏振片 准直器 预置 第二探测器 第一探测器 回音壁模式 种子激光器 激光光源 激光聚焦 缩束系统 依次设置 能量计 透过率 | ||
1.一种利用回音壁模式激光光源测FP透过率曲线的装置,其特征在于:包括依次设置的种子激光器、第一偏振片、第二偏振片、分光镜、缩束系统、透镜和PDMS;所述分光镜对应有能量计;所述PDMS对应设置有第一光谱仪;所述PDMS的一端预置入第一光纤,另一端预置入第二光纤;经过透镜的激光聚焦到第一光纤的端面;所述第二光纤对应有准直器,准直器对应有第一分束器,所述第一分束器分别对应有第二分束器和光圈,所述第二分束器分别对应有第二光谱仪和第一探测器,所述光圈对应有FP,FP对应有第三分束器,所述第三分束器分别对应有第二探测器和第三光谱仪。
2.根据权利要求1所述的利用回音壁模式激光光源测FP透过率曲线的装置,其特征在于:所述缩束系统由第一透镜和第二透镜组成。
3.一种利用回音壁模式激光光源测FP透过率曲线的装置的方法,其特征在于:包括上述任一权利要求所述的利用回音壁模式的激光光源测FP偏振特性的装置,将单一频率的种子激光器发出的激光通过第一偏振片和第二偏振片调节入射光的偏振;然后透过分光镜,分一束光至能量计中用于监视入射光的能量,通过分光镜的激光透过第一透镜和第二透镜组成的缩束系统然后经过透镜聚焦到第一光纤的端面上,第一光纤已经被预置入PDMS中,PDMS中加入所需染料后,在第一光纤中以回音壁模式传播光受染料的增益作用会产生回音壁模式的激光,产生的光被第一光谱仪监视,确认为需要的回音壁模式的激光后,通过第二光纤通入到扩束系统中;然后通过第一分束器,将激光分束为光束A1和光束A2,第二分光器将光束A2分为光束B1和光束B2,然后通过第二光谱仪检测光束B2的频率成分,第一探测器接收光束B1的能量;光束A1穿过光圈和FP,通过第三分束器把光束A1分为光束C1和光束C2,随后光束C2由第三光谱仪检测其频率成分,光束C1由第二探测器接收测量其能量;第一探测器和第二探测器的能量变化用于校准,然后通过比较FP前后对应频率分量的相对能量变化,即可得到相应频率的透射率;并将各频率分量通过多项式拟合,即可得到传输曲线。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院合肥物质科学研究院,未经中国科学院合肥物质科学研究院许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201910800131.0/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。