[发明专利]角度感测装置在审

专利信息
申请号: 201910800137.8 申请日: 2019-08-28
公开(公告)号: CN111102916A 公开(公告)日: 2020-05-05
发明(设计)人: 谢伟安;袁辅德;李彦琦 申请(专利权)人: 爱盛科技股份有限公司
主分类号: G01B7/30 分类号: G01B7/30
代理公司: 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 代理人: 罗英;臧建明
地址: 中国台湾新北市汐止*** 国省代码: 台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 角度 装置
【权利要求书】:

1.一种角度感测装置,其特征在于,包括:

第一物体;

第二物体,适于相对于所述第一物体转动,以使得所述第二物体相对于所述第一物体的倾斜角产生变化;

磁场源,连接至所述第二物体;以及

第一磁传感器,连接至所述第一物体,且用以感测所述磁场源所产生的磁场,

其中,当所述第二物体相对于所述第一物体转动时,所述第一磁传感器所感测到的所述磁场产生变化,而使得所述第一磁传感器的对应于所述磁场的输出信号产生变化。

2.根据权利要求1所述的角度感测装置,还包括转动机构,连接所述第一物体与所述第二物体,其中所述第二物体通过所述转动机构相对于所述第一物体旋转,且所述第一磁传感器与所述磁场源配置于所述转动机构之外。

3.根据权利要求1所述的角度感测装置,还包括第二磁传感器,连接至所述第一物体,且用以感测所述磁场源所产生的磁场,其中当所述第二物体相对于所述第一物体转动时,所述第一磁传感器所感测到的磁场变化不同于所述第二磁传感器所感测到的磁场变化。

4.根据权利要求3所述的角度感测装置,所述第一磁传感器与所述第二磁传感器分别位于第一参考平面上与第二参考平面上,且所述磁场源位于第三参考平面上,所述第一参考平面、所述第二参考平面及所述第三参考平面均平行于所述第二物体相对于所述第一物体转动的转轴,所述第一参考平面平行于所述第二参考平面,且当所述第二物体相对于所述第一物体转动时,所述第三参考平面相对于所述第一参考平面的倾斜角产生变化。

5.根据权利要求4所述的角度感测装置,其中所述第二磁传感器在所述第一参考平面上的正投影不与所述第一磁传感器重叠。

6.根据权利要求5所述的角度感测装置,其中所述第二磁传感器在所述第一参考平面上的所述正投影与所述转轴的距离不同于所述第一磁传感器与所述转轴的距离。

7.根据权利要求3所述的角度感测装置,还包括转动机构,连接所述第一物体与所述第二物体,其中所述第二物体通过所述转动机构相对于所述第一物体旋转,且所述第一磁传感器、所述第二磁传感器与所述磁场源配置于所述转动机构之外。

8.根据权利要求3所述的角度感测装置,其中所述第一磁传感器与所述第二磁传感器为单轴磁传感器、多轴磁传感器或其组合。

9.根据权利要求1所述的角度感测装置,其中所述第一磁传感器为多轴磁传感器。

10.根据权利要求1所述的角度感测装置,其中所述第一物体与所述第二物体为二个基板。

11.根据权利要求1所述的角度感测装置,其中所述磁场源为永久磁铁或电磁铁。

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