[发明专利]一种评估SSD总写入量的测试方法及计算机设备

说明书

本发明公开了一种评估SSD总写入量的测试方法及计算机设备。本发明中利用FIO测试工具，编写shell脚本，所述脚本shell包括读写模块及监测模块。SSD与计算机连接，运行FIO测试工具，读写模块对SSD计算数据写入量。同时，监测模块实时监测SSD的寿命损耗比例值；SSD的寿命损耗比例值达到设定数值，测试停止。计算SSD数据写入量与SSD的寿命损耗比例值的比例，以得到SSD整个生命周期的总数据写入量。本测试方法快速、成本低、便捷，有利于生产。

技术领域

本发明涉及固态硬盘(SSD)技术领域，更具体地说是一种评估SSD总写入量的测试方法及计算机设备。

背景技术

目前，在测量固态硬盘(Solid State Drive，SSD)整个生命周期的总数据写入量时，通常是参考JESD47I、JESD218B和JESD219A标准所述的方法。在上述三个标准所述的方法中，当要求测试置信度为90％，LTPD(Lot Tolerance Percent Defective，批次内允许的次品率)为1％时，最少需要230个测试样品，且测试时间通常需要1000小时。然而，当SSD处于产品开发周期中的初始阶段时，若采用上述方法测量SSD整个生命周期的总数据写入量，那这种方法的缺点显而易见。首先，该方法需要的样品数量较多，成本较高；此外，该方法的测试时间较长，不利于在SSD产品开发初期对其总数据写入量进行快速评估。

发明内容

本发明的目的在于克服现有技术的不足，提供一种评估SSD总写入量的测试方法及计算机设备。

为实现上述目的，本发明采用以下技术方案：

一种评估SSD总写入量的测试方法，

利用FIO测试工具，编写shell脚本，所述脚本shell包括读写模块及监测模块；

SSD与计算机连接，运行FIO测试工具，读写模块对SSD计算数据写入量；同时，监测模块实时监测SSD的寿命损耗比例值；SSD的寿命损耗比例值达到设定数值，测试停止；

计算SSD数据写入量与SSD的寿命损耗比例值的比例，以得到SSD整个生命周期的总数据写入量。

其进一步技术方案为：所述监测模块通过smartctl工具实时监控SSD的寿命损耗比例值。

其进一步技术方案为：所述读写模块通过libaio测试引擎，对SSD全盘随机混合读写。

其进一步技术方案为：所述读写模块对SSD数据的读写进行比例分配：读的比例为40％，写的比例为60％。

其进一步技术方案为：所述读写模块对数据以数据块方式来读取；所述数据块大小比例512B:1KB:1.5KB:2KB:2.5KB:3KB:3.5KB:4KB:8KB:16KB:32KB:64KB＝4:1:1:1:1:1:1:67:10:7:3:3。

其进一步技术方案为：所述SSD的队列深度为32。

其进一步技术方案为：所述脚本shell单线程执行。

一种计算机设备，所述计算机设备包括存储器及处理器，所述存储器上存储有计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如上述的方法。

本发明与现有技术相比的有益效果是：本发明中利用FIO测试工具，编写shell脚本，所述脚本shell包括读写模块及监测模块。SSD与计算机连接，运行FIO测试工具，读写模块对SSD计算数据写入量。同时，监测模块实时监测SSD的寿命损耗比例值；SSD的寿命损耗比例值达到设定数值，测试停止。计算SSD数据写入量与SSD的寿命损耗比例值的比例，以得到SSD整个生命周期的总数据写入量。本测试方法快速、成本低、便捷，有利于生产。