[发明专利]一种氧化镓基场效应晶体管在审
申请号: | 201910802269.4 | 申请日: | 2019-08-28 |
公开(公告)号: | CN110473906A | 公开(公告)日: | 2019-11-19 |
发明(设计)人: | 苏杰;张君敬;常晶晶;林珍华;郝跃 | 申请(专利权)人: | 西安电子科技大学 |
主分类号: | H01L29/06 | 分类号: | H01L29/06;H01L29/41;H01L29/78 |
代理公司: | 61223 西安铭泽知识产权代理事务所(普通合伙) | 代理人: | 徐云侠<国际申请>=<国际公布>=<进入 |
地址: | 710071 陕*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 氧化镓 沟道层 层状材料 界面修饰 二维 绝缘层 场效应晶体管 介质层 源漏区 电极 衬底 载流子注入效率 电极接触电阻 半导体电子 接触电阻 接触特性 表面氧 悬挂键 栅电极 金属 | ||
1.一种氧化镓基场效应晶体管,包括衬底(1),所述衬底(1)上部设有绝缘层(2),所述绝缘层(2)上部设有氧化镓沟道层(3),所述氧化镓沟道层(3)上部两端分别设有二维层状材料界面修饰层(4),两端的所述二维层状材料界面修饰层(4)上部分别设有源漏区电极(5),所述氧化镓沟道层(3)上部在两个所述源漏区电极(5)之间设有介质层(6),所述介质层(6)上部设有栅电极(7)。
2.根据权利要求1所述的氧化镓基场效应晶体管,其特征在于,所述二维层状材料界面修饰层(4)中的二维层状材料为六方氮化硼、石墨烯、黑磷和过渡金属硫族化合物中的任意一种。
3.根据权利要求1所述的氧化镓基场效应晶体管,其特征在于,所述二维层状材料界面修饰层(4)的厚度为1~5nm。
4.根据权利要求1所述的氧化镓基场效应晶体管,其特征在于,所述衬底(1)为硅衬底。
5.根据权利要求4所述的氧化镓基场效应晶体管,其特征在于,所述绝缘层(2)为生长在所述衬底(1)表面的SiO2薄膜。
6.根据权利要求1所述的氧化镓基场效应晶体管,其特征在于,所述源漏区电极(5)和栅电极(7)分别为金属导电材料。
7.根据权利要求1所述的氧化镓基场效应晶体管,其特征在于,所述介质层(6)为Al2O3。
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