[发明专利]RTK放样系统、方法及装置

权利要求书

1.一种RTK放样系统，其特征在于，包括RTK主机，电子手簿，处理器，第一摄像头，以及设于所述RTK主机底部的第二摄像头；所述处理器分别与所述电子手簿、所述RTK主机、所述第一摄像头和所述第二摄像头电连接；

所述处理器接收到外部输入的放样点信息时，启动所述第一摄像头；所述处理器接收所述第一摄像头传输的第一图像，并获取用于定位所述第一摄像头的第一矢量数据；所述处理器根据所述放样点信息、所述第一图像和所述第一矢量数据，构建第一AR图像并在所述电子手簿上显示；

当所述处理器检测到所述RTK主机与所述放样点的距离达到预设值时，所述处理器关闭所述第一摄像头，且启动所述第二摄像头；所述处理器接收所述第二摄像头传输的第二图像，并获取用于定位所述第二摄像头的第二矢量数据；所述处理器根据所述放样点信息、所述第二图像和所述第二矢量数据，构建第二AR图像并在所述电子手簿上显示；

所述处理器在监测到所述第二AR图像中、设于所述RTK主机上的定位标识物的图像与所述放样点的虚拟图像重合时，发出结束放样的提示。

2.根据权利要求1所述的RTK放样系统，其特征在于，还包括第一方向检测设备和第二方向检测设备；所述第一方向检测设备用于检测所述第一摄像头的朝向信息，所述第二方向检测设备设于所述RTK主机上；所述处理器分别与所述第一方向检测设备与所述第二方向检测设备电连接；

所述第一矢量数据包括所述第一摄像头的坐标和朝向信息；所述第二矢量数据包括所述第二摄像头的坐标和朝向信息；

所述处理器通过所述第一方向检测设备获取所述第一摄像头的朝向信息，并将所述RTK主机的坐标确认为所述第一摄像头的坐标；

所述处理器通过所述第二方向检测设备获取所述第二摄像头的朝向信息；所述处理器获取所述RTK主机与所述第二摄像头的相对位置信息，并根据所述相对位置信息和所述RTK主机的坐标，生成所述第二摄像头的坐标。

3.根据权利要求1所述的RTK放样系统，其特征在于，

所述处理器根据所述放样点信息、所述第一矢量数据，获取所述第一摄像头与所述放样点的第一相对方向；并根据所述第一相对方向，在所述第一图像上绘制所述放样点的虚拟影像，得到所述第一AR图像；

所述处理器根据所述放样点信息、所述第二矢量数据，获取所述第二摄像头与所述放样点的第二相对方向；并根据所述第二相对方向，在所述第二图像上绘制所述放样点的虚拟影像，得到所述第二AR图像。

4.根据权利要求1所述的RTK放样系统，其特征在于，

所述处理器对所述第一AR图像进行缩放处理后显示在所述电子手簿上；

所述处理器对所述第二AR图像进行缩放处理后显示在所述电子手簿上。

5.根据权利要求4所述的RTK放样系统，其特征在于，

所述处理器按照第一缩放比例对所述第一AR图像进行缩放；所述第一缩放比例为根据所述第一摄像头的光学参数得到；

所述处理器按照第二缩放比例对所述第二AR图像进行缩放；所述第二缩放比例为根据所述第二摄像头的光学参数得到。

6.根据权利要求1至5任一项所述的RTK放样系统，其特征在于，所述定位标识物为对中杆；所述对中杆设于所述RTK主机的底部。

7.根据权利要求6所述的RTK放样系统，其特征在于，

所述处理器获取所述对中杆底部的坐标和所述放样点的坐标，并根据所述对中杆底部的坐标和所述放样点的坐标，得到所述对中杆底部与所述放样点的距离；当所述距离小于预设阈值时，所述处理器发出有效放样的提示。