[发明专利]一种量子比特工作参数检测方法

权利要求书

1.一种量子比特工作参数检测方法，适用于设置有多个量子比特的量子芯片，所述量子比特包括相互耦合的量子比特探测器和量子比特装置；所述量子比特探测器远离对应所述量子比特装置的一端均连接至集成设置在所述量子芯片上的一数据传输总线，所述数据传输总线用于接收量子比特读取信号和发射量子比特读取反馈信号；

所述量子比特装置上连接有第一控制信号传输线和第二控制信号传输线，所述第一控制信号传输线提供的第一控制信号包括直流电压偏置信号；所述第二控制信号传输线提供的第二控制信号包括量子比特调控信号；

其中，所述直流电压偏置信号用于控制所述量子比特装置的频率变化；所述量子比特调控信号用于控制所述量子比特装置的量子态变化；

其特征在于，所述方法包括：

针对待检测所述量子比特；

设置所述直流电压偏置信号为单比特工作点电压，设置所述量子比特读取信号的频率等于所述量子比特探测器的预设相干工作频率，并借助所述单比特工作点电压、该频率的所述量子比特读取信号、所述量子比特调控信号进行能谱实验，获得对应的所述量子比特读取反馈信号，检测所述量子比特装置的频率初值；

在以上设置的基础上，设置所述量子比特调控信号的频率等于所述量子比特装置的频率初值，并借助该频率的所述量子比特调控信号、所述量子比特读取信号、所述单比特工作点电压、及对应的所述量子比特读取反馈信号，检测所述量子比特的弛豫时间和/或相干时间。

2.根据权利要求1所述的量子比特工作参数检测方法，其特征在于，所述设置所述直流电压偏置信号为单比特工作点电压，设置所述量子比特读取信号的频率等于所述量子比特探测器的预设相干工作频率，并借助该频率的所述量子比特读取信号、所述量子比特调控信号进行能谱实验，获得对应的所述量子比特读取反馈信号，检测所述量子比特装置的频率初值，具体包括：

同时施加所述直流电压偏置信号、所述量子比特读取信号以及具有第一预设频率范围第一量子比特调控信号；其中所述直流电压偏置信号设置为单比特工作点电压；

获得所述量子比特读取反馈信号随所述第一量子比特调控信号的变化曲线，并记为量子比特装置特征能谱曲线；

确定所述量子比特装置特征能谱曲线的峰值对应的频率，并记为所述量子比特装置的频率初值。

3.根据权利要求2所述的量子比特工作参数检测方法，其特征在于，所述第一预设频率范围覆盖所述量子芯片上的所有所述量子比特装置的预设工作频率范围。

4.根据权利要求1所述的量子比特工作参数检测方法，其特征在于，所述设置所述量子比特调控信号的频率等于所述量子比特装置的频率初值，并借助该频率的所述量子比特调控信号、所述量子比特读取信号、所述单比特工作点电压、及对应的所述量子比特读取反馈信号，检测所述量子比特装置的弛豫时间，具体包括：

确定第一量子比特调控分解信号；其中，所述第一量子比特调控分解信号的频率等于所述量子比特装置的频率初值，所述第一量子比特调控分解信号的幅度用于控制所述量子比特装置中量子态发生翻转；

施加所述量子比特读取信号、所述第一量子比特调控分解信号和所述单比特工作点电压；其中：所述量子比特读取信号具有不同的触发延时参数；

获得所述量子比特读取反馈信号随所述量子比特读取信号的所述触发延时参数的变化曲线，记为量子比特弛豫时间曲线；

根据所述量子比特弛豫时间曲线确定量子比特弛豫时间。

5.根据权利要求4所述的量子比特工作参数检测方法，其特征在于，所述根据所述量子比特弛豫时间曲线确定量子比特弛豫时间，具体包括：

对所述量子比特弛豫时间曲线进行衰减函数拟合，确定所述衰减函数的衰减系数为量子比特弛豫时间。