[发明专利]勘探缝洞储层的方法、系统、装置及存储介质

权利要求书

1.一种勘探缝洞储层的方法，其特征在于，所述方法包括：

在三维坐标系下构建指数型椭圆自相关函数；

通过对构建的所述指数型椭圆自相关函数进行傅里叶变换，获得随机扰动函数的功率谱函数；

根据所述功率谱函数，获得随机扰动函数并规范化；

根据规范化后的所述随机扰动函数和缝洞储层内的随机介质的背景介质参数，构建三维随机介质模型；

在构建的所述三维随机介质模型中输入待勘探的缝洞储层内的随机介质的背景介质参数，以获得所述待勘探的缝洞储层对应的随机介质模型；

利用所述随机介质模型进行缝洞储层的勘探。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述在三维坐标系下构建指数型椭圆自相关函数，包括：

在三维全局坐标系中选取点的三个局部自相关长度；

根据三维局部坐标系与所述三维全局坐标系中的点与点之间的空间偏移量，选取与三个所述局部自相关长度对应的三个旋转角度；

根据三个所述局部自相关长度和三个所述旋转角度，构建指数型椭圆自相关函数。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，设定a(x,y,z)、b(x,y,z)、c(x,y,z)分别为三维全局坐标系OXYZ中(x,y,z)点的三个局部自相关长度；根据三个所述局部自相关长度和三个所述旋转角度，构建的指数型椭圆自相关函数的表达式为：

式(1)中：a(x,y,z)、b(x,y,z)、c(x,y,z)分别为三维全局坐标系OXYZ点(x,y,z)的局部自相关函数和局部自相关长度；x′₁,y′₁,z′₁为三维局部坐标系O'X'₁Y'₁Z'₁中相对于点(x,y,z)的空间偏移量，三维局部坐标系O'X'₁Y'₁Z'₁是由三维局部坐标系O'X₁ Y₁ Z₁沿逆时针方向旋转角度α，β，γ得到，所述空间偏移量的表达式为：

式(2)中：D为空间偏移量，α，β，γ为a(x,y,z)、b(x,y,z)、c(x,y,z)对应的旋转角度。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，构建的所述指数型椭圆自相关函数进行傅里叶变换的公式为：

式(3)中：Γ表示空间傅里叶变换算子，φ(k_x,k_y,k_z)表示随机扰动函数的功率谱函数，k为空间波数，kx为x坐标轴方向的空间波数，ky为y坐标轴方向的空间波数，kz为z坐标轴方向的空间波数。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述根据所述功率谱函数，获得随机扰动函数，包括：

由功率谱函数，根据随机过程的方法产生对应的随机谱序列；

应用随机过程的谱展开公式，获得由构建的所述指数型椭圆自相关函数描述的随机扰动函数。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，规范化所述随机扰动函数，包括：

按随机扰动均值和方差的要求，规范化所述随机扰动函数。

7.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，根据规范化后的所述随机扰动函数和随机介质的背景介质参数，构建的三维随机介质模型的表达式为：

式(4)中：ρ为密度，λ、μ为拉梅参数，ρ₀、λ₀、μ₀为缝洞储层内的随机介质的背景介质参数；δρ、δλ、δμ为非均匀扰动量。