[发明专利]一种金属薄膜材料流动应力及流动应力-应变曲线的测定方法有效
申请号: | 201910806332.1 | 申请日: | 2019-08-29 |
公开(公告)号: | CN110530693B | 公开(公告)日: | 2020-11-20 |
发明(设计)人: | 鲁世强;王克鲁;欧阳德来 | 申请(专利权)人: | 南昌航空大学 |
主分类号: | G01N1/28 | 分类号: | G01N1/28;G01N3/18 |
代理公司: | 北京高沃律师事务所 11569 | 代理人: | 薛红凡 |
地址: | 330063 江西省*** | 国省代码: | 江西;36 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 金属 薄膜 材料 流动 应力 应变 曲线 测定 方法 | ||
1.一种金属薄膜材料流动应力的测定方法,其特征在于,包括以下步骤:
选择与待测金属薄膜材料成分相同或相近的体积材料作为基体,并将其加工成Φ8mm×(6-X)mm的试样,其中:X为待测金属薄膜材料的厚度;
在所述Φ8mm×(6-X)mm试样的一端沉积一层厚度为X mm的待测金属薄膜材料,得到Φ8mm×6mm的试样;
将两个相同的Φ8mm×6mm试样,按照待测金属薄膜材料相互接触的方式叠放,并封焊连接,得到Φ8mm×12mm的压缩试样;
设定温度T0和应变速率ε0,对所述压缩试样进行等温恒应变速率压缩实验,将所述压缩试样压缩至某一设定高度Hi,得到压缩样品;所述压缩样品的高度压下率HRRi为(12-Hi)/12,并获得高度压下率为HRRi时压缩样品对应的变形载荷Pi;
测定所述压缩样品中的待测金属薄膜材料的直径di,利用公式(1),得到待测金属薄膜材料在温度T0、应变速率ε0和高度压下率HRRi时的流动应力σi;
σi=Pi/(0.25πdi2) 公式(1);
其中:σi为流动应力,MPa;Pi为变形载荷,N;di为高度压下率HRRi时压缩样品中待测金属薄膜材料的直径,m。
2.根据权利要求1所述的测定方法,其特征在于,所述试样上待测金属薄膜材料的制备方法包括物理气相沉积;所述物理气相沉积得到的待测金属薄膜材料的厚度X为0.06~0.1。
3.一种金属薄膜材料流动应力-应变曲线的测定方法,其特征在于,包括以下步骤:
(1)根据权利要求1~2任一项所述的测定方法,获得在设定温度T0和应变速率ε0下,所述压缩试样压缩至系列高度压下率HRRi时所对应压缩样品的待测金属薄膜材料的流动应力σi;
(2)测定步骤(1)系列高度压下率HRRi压缩样品中待测金属薄膜材料的厚度hi,利用公式(2),得到系列高度压下率HRRi压缩样品中待测金属薄膜材料的应变εi;
εi=-ln(hi/(2X)) 公式(2);
其中:εi为应变;hi为系列高度压下率HRRi压缩样品中待测金属薄膜材料的厚度,mm;
(3)以所述步骤(1)得到的系列高度压下率HRRi压缩样品的流动应力σi为纵坐标,以所述步骤(2)得到系列高度压下率HRRi压缩样品的应变εi为横坐标,获得的σ~ε曲线即为金属薄膜材料在设定温度T0和应变速率ε0下的流动应力-应变曲线;
所述步骤(1)和步骤(2)没有时间上的限定。
4.根据权利要求3所述的测定方法,其特征在于,获得hi的方法为:将系列高度压下率HRRi压缩样品沿轴向对半切开,在金相显微镜中测量出系列高度压下率HRRi压缩样品中待测金属薄膜材料的厚度hi。
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