[发明专利]一种功能缺陷类型检测方法及系统

说明书

本发明公开了一种功能缺陷类型检测方法及系统，方法包括：获取待测试的功能的信息，基于待测试的功能的信息，以及功能缺陷类型的k最邻近分类算法模型，确定待测试的功能的缺陷类型。本发明通过功能缺陷类型的k最邻近分类算法模型，能够有效的确定出系统功能的缺陷类型，能够帮助系统开发人员最大程度的预知系统功能缺陷以及预防系统功能缺陷。

技术领域

本发明涉及功能检测技术领域，尤其涉及一种功能缺陷类型检测方法及系统。

背景技术

通常情况下，一个系统功能的实现，需要经过开发人员的代码编写，测试人员对系统的功能进行功能测试后，再正式上线，而每一个系统在前期的研发、后期的使用中或多或少都会产生一些问题或者缺陷。

因此，如何确定系统功能的缺陷类型，是一项亟待解决的问题。

发明内容

有鉴于此，本发明提供了一种功能缺陷类型检测方法，能够有效的确定出系统功能的缺陷类型。

本发明提供了一种功能缺陷类型检测方法，包括：

获取待测试的功能的信息；

基于所述待测试的功能的信息，以及功能缺陷类型的k最邻近分类算法模型，确定所述待测试的功能的缺陷类型。

优选地，在所述获取待测试的功能的信息前，还包括：

构建功能缺陷类型的k最邻近分类算法模型。

优选地，所述构建功能缺陷类型的k最邻近分类算法模型包括：

获取系统的历史功能缺陷类型；

基于所述历史功能缺陷类型构建k最邻近分类算法模型。

优选地，所述方法还包括：

优化功能缺陷类型的k最邻近分类算法模型。

一种功能缺陷类型检测系统，包括：

获取模块，用于获取待测试的功能的信息；

检测模块，用于基于所述待测试的功能的信息，以及功能缺陷类型的k最邻近分类算法模型，确定所述待测试的功能的缺陷类型。

优选地，所述系统还包括：

模型构建模块，用于构建功能缺陷类型的k最邻近分类算法模型。

优选地，所述模型构建模块在执行构建功能缺陷类型的k最邻近分类算法模型时，具体包括：

获取单元，用于获取系统的历史功能缺陷类型；

k最邻近分类算法模型构建单元，用于基于所述历史功能缺陷类型构建k最邻近分类算法模型。

优选地，所述系统还包括：

优化模块，用于优化功能缺陷类型的k最邻近分类算法模型。

综上所述，本发明公开了一种功能缺陷类型检测方法，当需要定位系统功能的缺陷类型时，首先获取待测试的功能的信息，然后基于待测试的功能的信息，以及功能缺陷类型的k最邻近分类算法模型，确定待测试的功能的缺陷类型。本发明通过功能缺陷类型的k最邻近分类算法模型，能够有效的确定出系统功能的缺陷类型，能够帮助系统开发人员最大程度的预知系统功能缺陷以及预防系统功能缺陷。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。