[发明专利]一种面向输入向量的RTL级电路可靠性计算方法在审
申请号: | 201910812900.9 | 申请日: | 2019-08-30 |
公开(公告)号: | CN110610036A | 公开(公告)日: | 2019-12-24 |
发明(设计)人: | 肖杰;季奇瓯;孙紫文;施展辉;诸玮东;周乾伟;杨旭华 | 申请(专利权)人: | 浙江工业大学 |
主分类号: | G06F17/50 | 分类号: | G06F17/50 |
代理公司: | 33241 杭州斯可睿专利事务所有限公司 | 代理人: | 王利强 |
地址: | 310014 浙江省*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 链表 顶层 调用 超大规模集成电路 深度优先搜索 电路可靠性 可靠性计算 并行策略 递归算法 电路模块 迭代策略 迭代计算 模块构建 模块展开 输入向量 提取模块 组成单元 上层子 输入源 子模块 末尾 递归 构建 算法 电路 保证 反馈 检测 分析 发现 | ||
一种面向输入向量的RTL级电路可靠性计算方法,以模块可计算为原则,通过深度优先搜索算法为每个模块构建了与之相对应的完整性链表,使每个模块的输入源均可从其上层子完整性链表中获得,从而保证了每个模块计算的顺利开展;基于递归原则并借助SCA方法完成了对电路模块可靠性的分析;根据所构建的完整性链表,利用迭代策略实现了对RTL级电路的可靠性计算;针对所提取模块,利用递归算法进行检测,当发现有子模块的组成单元均为基本门时,便调用SCA方法展开计算以保证精度,而当计算结果被反馈到顶层链表时,则调用下一个模块展开迭代计算,直至到达顶层链表的末尾。本发明适用于超大规模集成电路的计算及并行策略的使用,计算高精度。
技术领域
本发明涉及集成电路可靠性的评价,具体来说是一种基于模块化分析的面向输入向量的RTL级电路可靠性计算方法。
背景技术
对速度更快、体积更小电路的追求,使得当前技术朝着元器件的特征尺寸不断缩小,电路集成度不断提高的方向发展。这同时也使得电路受不确定性故障的威胁愈发显著,从而降低了电路的可靠性容限。因此,有必要开展对集成电路可靠性水平的评价研究,以便为及时改善电路的可靠性水平提供参考与依据。然而,集成度的提高使得电路的规模也随之膨胀,这使得传统的方法已不再适用于当前超大规模集成电路可靠性的快速有效评价。
发明内容
在RTL级展开分析是实现超大规模集成电路可靠性快速有效评价的一种有效手段。其一,RTL级电路是由众多功能模块通过串并联方式所构成,这有利于以功能模块为单位展开分析,从而为实现超大规模集成电路的可靠性分析创造了条件。其二,每个功能模块都可进一步分解到由门级单元(基本门)所组成,这有助于借助门级方法来实现对模块的精确分析,从而为精确评价超大规模集成电路的可靠性提供了可能。
为实现上述目标,首先基于深度优先搜索技术完成了对RTL级电路网表的有效解析,使明确了各模块信号源的提取方式。其次通过临时队列暂存技术明确了各模块调取SCA方法的时机,以实现可靠性在模块间的有效传递。
本发明解决其技术问题所采用的技术方案是:
一种面向输入向量的RTL级电路可靠性计算方法,所述计算方法包括以下步骤:
步骤1:网表解析及相关量的初始化,过程如下:
1.1)读取RTL级电路网表,并初始化相关变量;
1.2)若所有模块均已解析完成,则返回模块链表LC,并转至步骤2;否则,提取电路的第k个模块;
1.3)若到达模块网表末尾,则转至1.7);否则,读取该网表的第i条记录Ni;
1.4)若Ni为基本门单元,则转至1.5);否则,读取该模块单元信息,并转至1.5);
1.5)若该节点的输入源均已知,则将Ni置入到对应该模块的完整性链表LCk的末尾;否则,将Ni置入到对应该模块的非完整性链表LUk的末尾;
1.6)执行i=i+1,并转至1.3);
1.7)遍历该模块的非完整性链表LUk;
1.8)若LUk为空,则转至1.12);否则,读取LUk中的节点Nj;
1.9)遍历LCk,并从中提取Nj的已知输入源;
1.10)若Nj的输入源均已知,则将Nj置入到LCk的末尾,并将其从LUk中删除;
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