[发明专利]一种激光准直收发一体式直线度测量的标定系统及方法在审

专利信息
申请号: 201910812967.2 申请日: 2019-08-29
公开(公告)号: CN110455226A 公开(公告)日: 2019-11-15
发明(设计)人: 段发阶;张聪;傅骁;刘文正;苏宇浩;鲍瑞伽 申请(专利权)人: 天津大学
主分类号: G01B11/27 分类号: G01B11/27
代理公司: 12201 天津市北洋有限责任专利代理事务所 代理人: 刘子文<国际申请>=<国际公布>=<进入
地址: 300072*** 国省代码: 天津;12
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摘要:
搜索关键词: 激光干涉仪 角锥棱镜 直线度测量 二维位置 激光器 激光头 位移台 探测器 标定系统 激光照射 干涉镜 固定端 收发一体式 方向水平 激光干涉 激光准直 位移测量 出射 回射 移动
【权利要求书】:

1.一种激光准直收发一体式直线度测量的标定系统,其特征在于,包括直线度测量机构、激光干涉仪激光头(7)、激光干涉仪干涉镜(8)、激光干涉仪角锥棱镜(9)和位移台(12),所述直线度测量机构由激光器(1)、二维位置探测器(2)、固定端基座(3)和角锥棱镜(4)组成,激光器(1)和二维位置探测器(3)均固定在固定端基座(3)上,激光器(1)的出射激光(5)照射到角锥棱镜(4),经过角锥棱镜(4)后的回射激光(6)照射到二维位置探测器(2)上,所述角锥棱镜(4)放置于位移台(12)上;

激光干涉仪角锥棱镜(9)放置于位移台(12)上,位移台(12)能够沿x方向水平移动,激光干涉仪激光头(7)的出射激光(10)与坐标系x方向平行并照射到激光干涉仪角锥棱镜(9)上,经过激光干涉仪角锥棱镜(9)的回射激光(11)被激光干涉仪激光头(7)接收,激光干涉仪干涉镜(8)放置在激光干涉仪激光头(7)与激光干涉仪角锥棱镜(9)之间,使激光干涉仪激光头(7)内激光干涉从而实现位移台(12)的位移测量;位移台(12)沿x方向运动能够实现标定二维位置探测器(2)的x方向,将二维位置探测器(2)旋转90°后能够实现标定二维位置探测器(2)的z方向。

2.基于激光准直收发一体式直线度测量的高精度标定方法,其特征在于,包括以下步骤:

步骤一:搭建基于激光准直收发一体式直线度测量的标定系统结构;

步骤二:建立基于激光准直收发一体式直线度测量标定系统结构的误差模型;具体步骤如下:

(201)计算阿贝误差;位移台沿x轴运动时,存在三个角度误差,分别是绕x方向旋转的εxx、绕y方向旋转的εyx、绕z方向旋转的εzx;存在三个阿贝偏位,分别是x方向阿贝偏位Lxx、y方向阿贝偏位Lyx、z方向阿贝偏位Lzx;当位移台移动时,角度εzx、εyx和阿贝偏位Lyx、Lzx造成的阿贝误差δxx1用(1)表示;

δxx1=-εzxLyxyxLzx (1)

(202)计算角锥棱镜平行平板效应带来的误差;角锥棱镜有三个反射面,将角锥棱镜按照激光经过反射面的先后顺序展开,激光经过角锥棱镜等效看成经过平行平板,角锥棱镜的高度为h,则平行平板的厚度为2h;

角锥棱镜平行平板效应带来的误差为δxx2,用式(2)表示,其中n表示角锥棱镜的折射率;

其中,O1点为角锥棱镜的激光入射表面中心,O2为激光干涉仪角锥棱镜的激光入射表面中心,O1O1′为平行平板未旋转时的中心线,O1O1″为平行平板旋转后的中心线,A点为激光器的出射激光在平行平板表面的入射点,A′点为激光器的回射激光在未旋转平行平板表面的出射点,A″点为激光器的回射激光在旋转后平行平板表面的出射点,|O1O1″|x为O1′点与O1″点在x方向的距离;|A′A″|x为A′点与A″点在x方向的距离;Δxl为角锥棱镜旋转后激光器的回射激光在x方向的平移距离。

(203)计算总的标定系统误差模型δxx,由标定时的阿贝误差δxx1与角锥棱镜平行平板效应带来的误差δxx2组成,用式(3)表示;

步骤三:调节阿贝偏位大小,令Lzx=0、从而使标定系统误差为0,进而提高标定精度。

3.根据权利要求2所述基于激光准直收发一体式直线度测量的高精度标定方法,其特征在于,步骤三中通过在激光干涉仪角锥棱镜下方放置垫块,使得Lzx=0,沿y方向调整激光干涉仪角锥棱镜使得

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