[发明专利]一种便携式智能卡模块测试装置在审

申请号：	201910813837.0	申请日：	2019-08-30
公开（公告）号：	CN110554299A	公开（公告）日：	2019-12-10
发明（设计）人：	史久文;钟镇辉;郭自强	申请（专利权）人：	大唐微电子技术有限公司
主分类号：	G01R31/28	分类号：	G01R31/28
代理公司：	11262 北京安信方达知识产权代理有限公司	代理人：	凌齐文;龙洪
地址：	100094***	国省代码：	北京;11
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摘要：
搜索关键词：	扣合盖测试装置主体便携式智能卡模块测试装置接口板测试智能卡读卡器智能卡测试便于携带测试装置可固定铰接可用转动电缆申请
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【说明书】：

本申请提供了一种便携式智能卡模块测试装置，测试装置包括测试装置主体和用于安装智能卡读卡器的接口板，所述接口板通过电缆与所述测试装置主体连接，所述测试装置主体包括第一扣合盖、第二扣合盖和测试PCB板，所述测试PCB板安装在所述第一扣合盖上，所述第一扣合盖的一端和所述第二扣合盖的一端铰接，使所述第一扣合盖可相对于所述第二扣合盖转动；所述第一扣合盖的另一端与所述第二扣合盖的另一端可固定连接和打开。便携式智能卡模块测试装置结构简单、便于携带，且可用于测试多种类型的智能卡测试。

技术领域

本申请涉及但不限于测试装置，特别是一种便携式智能卡模块测试装置。

背景技术

现有的测试装置采用下压式结构，可以支持标准ISO7816接口M20条带智能卡模块的测试工作。测试时，将被测物模块放置于载物台上，下压测试头，探针与被测物触点接触，实现电气连接和功能测试。但现有的现有测试装置体积大、结构复杂、不易携带，且无法方便的更换芯片，即无法同时支持双界面模块和非接触模块的测试需求。

发明内容

本申请实施例提供了一种便携式智能卡模块测试装置，其结构简单、便于携带，且可用于测试多种类型的智能卡测试。

本申请实施例提供了一种便携式智能卡模块测试装置，便携式智能卡模块测试装置包括测试装置主体和用于安装智能卡读卡器的接口板，所述接口板通过电缆与所述测试装置主体连接，

所述测试装置主体包括第一扣合盖、第二扣合盖和测试PCB板，所述测试PCB板安装在所述第一扣合盖上，所述第一扣合盖的一端和所述第二扣合盖的一端铰接，使所述第一扣合盖可相对于所述第二扣合盖转动；

所述第一扣合盖的另一端与所述第二扣合盖的另一端可固定连接和打开。

相比于现有技术，本申请具有以下有益效果：

本申请实施例提供的便携式智能卡模块测试装置结构简单、体积小、便于携带，大大方便了操作人员在不同地点对智能卡模块进行测试；测试装置主体中可拆卸的安装测试PCB板，可根据被测智能卡的类型方便地更换测试PCB板，进而使测试装置可同时支持双界面模块和非接触模块等多种测试需求。此外，本申请实施例提供的便携式智能卡模块测试装置结构相对简单，工作可靠性高，使用寿命长，大大提高了该便携式智能卡模块测试装置的实用性。

本申请的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述。

附图说明

附图用来提供对本申请技术方案的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本申请的实施例一起用于解释本申请的技术方案，并不构成对本申请技术方案的限制。

图1为本申请实施例所述的便携式智能卡模块测试装置的结构示意图；

图2为本申请实施例所述的测试装置主体的结构示意图；

图3为本申请实施例所述的第二扣合盖的结构示意图(俯视图)；

图4为本申请实施例所述的第二扣合盖的结构示意图(左视图)；

图5为本申请实施例所述的测试PCB板的示意图一；

图6为本申请实施例所述的测试PCB板的示意图二；

图7为本申请实施例所述的测试PCB板的示意图三。

图示说明：

1-测试装置主体，11-第一扣合盖，111-凸出部，12-第二扣合盖，121-凸起部，13-测试PCB板，2-接口板，3-电缆，4-磁铁，5-铁片，6-铰接孔。