[发明专利]基于同一IO口的开关状态采集和MCU唤醒电路及方法

权利要求书

1.一种基于同一IO口的开关状态采集和MCU唤醒电路，其特征在于，包括：主电路与开关组件；所述主电路包括第一电阻、第二电阻、第三电阻和MCU；所述开关组件包括第四电阻和待检测开关，所述第四电阻与待检测开关并联；所述第一电阻一端与所述第四电阻的一端和所述待检测开关的一端相连接；所述第三电阻的一端与直流电源相连接；所述第一电阻的另一端、所述第二电阻的一端、所述第三电阻的另一端和所述MCU一端口通过连接点A相互连接；所述待检测开关的另一端、所述第四电阻的另一端和所述第二电阻的另一端均接地；当所述MCU处于休眠状态时，通过检测所述端口的电平变化进行MCU唤醒，并将所述端口设置为GPIO状态，通过采集连接点A的电压判断所述待检测开关的状态；当所述MCU未休眠时，将所述端口设置为ADC状态，通过采集连接点A的电压判断所述待检测开关的状态。

2.根据权利要求1所述的基于同一IO口的开关状态采集和MCU唤醒电路，其特征在于，所述待检测开关的状态包括：对电源短路状态、开路状态、对地短路状态、未触发状态、触发状态。

3.根据权利要求2所述的基于同一IO口的开关状态采集和MCU唤醒电路，其特征在于，对电源短路状态的检测方法包括：所述MCU采集连接点A的电压，判断连接点A的电压是否等于第一预设值或在第一预设区间，如果是，判断出待检测开关的状态为电源短路状态；

对开路状态的检测方法包括：所述MCU采集连接点A的电压，判断连接点A的电压是否等于第二预设值或在第二预设区间，如果是，判断出待检测开关的状态为开路状态；

对地短路状态的检测方法包括：所述MCU采集连接点A的电压，判断连接点A的电压是否等于第三预设值或在第三预设区间，如果是，进一步判断连接点A的电压的持续时间是否超过第一预设时间，如果是，判断出待检测开关的状态为对地短路状态；

未触发状态的检测方法包括：所述开关组件与所述主电路相连接；所述MCU采集连接点A的电压，判断连接点A的电压是否等于第四预设值或在第四预设区间，如果是，判断出待检测开关的状态为未触发状态；

触发状态的检测方法包括：所述开关组件与所述主电路相连接，所述MCU采集连接点A的电压，判断连接点A的电压是否等于第五预设值或在第五预设区间，如果是，进一步判断连接点A的电压的持续时间是否小于第二预设时间，如果是，判断出待检测开关的状态为对触发状态。

4.根据权利要求3所述的基于同一IO口的开关状态采集和MCU唤醒电路，其特征在于，所述第一预设时间大于第二预设时间。

5.根据权利要求2所述的基于同一IO口的开关状态采集和MCU唤醒电路，其特征在于，所述第三电阻的一端通过一辅助开关与直流电源相连接。

6.根据权利要求5所述的基于同一IO口的开关状态采集和MCU唤醒电路，其特征在于，对电源短路状态的检测方法包括：断开所述辅助开关，所述MCU采集连接点A的电压，判断连接点A的电压是否为0，如果不为0，判断出待检测开关的状态为电源短路状态；

对开路状态的检测方法包括：导通所述辅助开关；所述MCU采集连接点A的电压，判断连接点A的电压是否等于第二预设值或在第二预设区间，如果是，判断出待检测开关的状态为开路状态；

对地短路状态的检测方法包括：导通所述辅助开关；所述MCU采集连接点A的电压，判断连接点A的电压是否等于第三预设值或在第三预设区间，如果是，进一步判断连接点A的电压的持续时间是否超过第一预设时间，如果是，判断出待检测开关的状态为对地短路状态；

未触发状态的检测方法包括：导通所述辅助开关，所述开关组件与所述主电路相连接；所述MCU采集连接点A的电压，判断连接点A的电压是否等于第四预设值或在第四预设区间，如果是，判断出待检测开关的状态为未触发状态；

触发状态的检测方法包括：导通所述辅助开关，所述开关组件与所述主电路相连接，所述MCU采集连接点A的电压，判断连接点A的电压是否等于第五预设值或在第五预设区间，如果是，进一步判断连接点A的电压的持续时间是否小于第二预设时间，如果是，判断出待检测开关的状态为对触发状态。