[发明专利]测试SSD随机场景下异常掉电的方法、装置及计算机设备

说明书

本发明涉及测试SSD随机场景下异常掉电的方法、装置及计算机设备，方法包括：将测试平台接入控制异常掉电的PDU装置，并将待测试SSD装入测试平台；搭建自动测试控制环境，并运行自动测试脚本；随机生成一随机数，并根据随机数控制测试平台进入对应的测试场景；通过自动测试脚本输出控制指令，控制对应的PDU装置为对应的测试平台上下电。本方案通过随机生成一随机数，来自动根据随机数切换SSD进入对应的测试场景中进行掉电测试，增加了SSD异常掉电的测试场景，在掉电测试过程中自动化的随机选择测试场景，高效率、高强度的测试可以更大几率测试出SSD在做异常掉电测试下潜在的缺陷，提高SSD的质量。

技术领域

本发明涉及SSD领域，更具体地说是指一种测试SSD随机场景下异常掉电的方法、装置及计算机设备。

背景技术

目前的SSD异常掉电测试场景，多数是单一场景下循环做异常掉电。例如一种场景是在测试平台做Idle测试时进行PDU装置上下电1000次，另一种场景是测试平台做BuinIn读写测试时进行PDU装置上下电1000次。这两种场景对于目前的异常掉电测试中需要搭建两套环境，或者在前者执行完成后手动操作继续执行后者。这种测试场景下不仅没有完全模拟用户在任意场景下发生异常掉电的可能，而且在执行效率下大打折扣。

发明内容

本发明的目的在于克服现有技术的缺陷，提供一种测试SSD随机场景下异常掉电的方法、装置及计算机设备。

为实现上述目的，本发明采用以下技术方案：一种测试SSD随机场景下异常掉电的方法，包括以下步骤：

将测试平台接入控制异常掉电的PDU装置，并将待测试SSD装入测试平台；

搭建自动测试控制环境，并运行自动测试脚本；

随机生成一随机数，并根据随机数控制测试平台进入对应的测试场景；

通过自动测试脚本输出控制指令，控制对应的PDU装置为对应的测试平台上下电。

其进一步技术方案为：所述随机生成一随机数的步骤，包括：

通过随机函数产生随机数。

其进一步技术方案为：所述通过自动测试脚本发送控制指令，控制对应的PDU装置为处于具体测试场景的SSD上下电的步骤，包括：

通过PDU装置控制测试平台掉电；

判断接入测试平台的SSD是否出现异常情况；

若出现异常情况，则结束测试；

若未出现异常情况，则判定SSD该次测试通过，并通过PDU装置控制测试平台上电；

判断掉电次数是否大于设定值；

若否，则返回所述随机生成一随机数步骤；

若是，则结束测试。

其进一步技术方案为：所述测试场景包括trim测试场景，大文件复制测试场景，BurnIn读写测试场景、磁盘分区格式化测试场景和Idle测试场景。

本发明还提出了一种测试SSD随机场景下异常掉电的装置，包括：

控制接入单元，用于将测试平台接入控制异常掉电的PDU装置，并将待测试SSD装入测试平台；

环境搭建单元，用于搭建自动测试控制环境，并运行自动测试脚本；

场景进入单元，用于随机生成一随机数，并根据随机数控制测试平台进入对应的测试场景；

测试单元，用于通过自动测试脚本输出控制指令，控制对应的PDU装置为对应的测试平台上下电。