[发明专利]一种基于频移反馈环路的激光频率漂移测量方法及系统

权利要求书

1.一种基于电光相位调制频移反馈环路的激光频率漂移测量方法，其特征在于，所述方法包括：

（1）将待测激光注入频移反馈环路，经过电光相位调制产生双边带移频；

（2）所述待测激光在所述频移反馈环路中传输一周的时间τ内，当所述电光相位调制的调制频率f_m乘以所述τ等于整数时，输出并探测所述待测激光的双脉冲输出：

（2-1）在t时刻，一个调制周期t_m内，探测所述待测激光通过所述频移反馈环路的第一组双脉冲输出，得到所述第一组双脉冲输出的时间间隔t＇(t)；

（2-2）在t+∆t时刻，一个调制周期t_m内，探测所述待测激光通过所述频移反馈环路的第二组双脉冲输出，得到所述第二组双脉冲输出的时间间隔t＇(t+∆t)；

（3）根据所述第二组双脉冲输出的时间间隔与所述第一组双脉冲输出的时间间隔的差值t＇(t+∆t)- t＇(t)，得出所述待测激光的频率漂移变化量f₀(t+∆t)- f₀(t)，其中，f₀为所述待测激光的频率；

所述待测激光的频率漂移变化量f₀(t+∆t)- f₀(t)为：

;

其中，δ为所述电光相位调制的调制深度，ω_m为调制角频率；τ为所述待测激光在所述环路中传输一周所需的时间。

2.根据权利要求1所述的激光频率漂移测量方法，其特征在于，所述调制深度δ满足：π/20δ2π。

3.根据权利要求2所述的激光频率漂移测量方法，其特征在于，所述调制深度δ=π。