[发明专利]数据校验方法及装置、存储介质、电子装置有效
申请号: | 201910817704.0 | 申请日: | 2019-08-30 |
公开(公告)号: | CN110516258B | 公开(公告)日: | 2022-12-06 |
发明(设计)人: | 杨鹏 | 申请(专利权)人: | 北京明略软件系统有限公司 |
主分类号: | G06F40/226 | 分类号: | G06F40/226 |
代理公司: | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人: | 江舟 |
地址: | 100086 北京市海淀区*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 数据 校验 方法 装置 存储 介质 电子 | ||
1.一种数据校验方法,其特征在于,包括:
利用确定的校验组件对输入的待校验数据进行格式校验,得到校验结果,其中,所述校验组件中包括预设属性格式,校验所述待校验数据的校验算法,所述校验算法中包括预设输入格式;
基于所述校验结果确定所述待校验数据的输入是否存在异常;
利用确定的校验组件对输入的待校验数据进行格式校验,得到校验结果之前,所述方法还包括:确定所述校验组件,其中,确定所述校验组件包括:
确定第一组件,其中,所述第一组件用于检验所述待校验数据的输入格式,所述第一组件中包括所述预设输入格式,校验所述待校验数据的 输入格式的第一校验算法;
确定第二组件,其中,所述第二组件用于检验所述待校验数据的整体格式,所述第二组件中包括预设整体格式,检验所述待校验数据的整体格式的第二校验算法;
将所述第一组件和第二组件的组合确定为所述校验组件,其中,所述第一组件包括在所述第二组件中;
确定所述校验组件之后,所述方法还包括:
将所述第一组件注册至所述第二组件中,以使所述第一组件具备访问所述第二组件的能力;
将承载所述待校验数据的输入组件与所述第一组件和所述第二组件进行绑定。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,利用确定的校验组件对输入的待校验数据进行格式校验,得到校验结果之前,所述方法还包括:
定义所述待校验数据的数据格式,其中,所述待校验数据的数据格式包括以下至少之一:语言,标识,类型,所述待校验数据所在的表格的数据格式。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,利用确定的校验组件对输入的待校验数据进行格式校验,得到校验结果,包括:
在确定所述待校验数据输入完成的情况下,将所述待校验数据的与预设输入属性进行比对,得到第一比对结果,其中,所述第一比对结果中包括所述待校验数据输入属性是否存在异常;
将所述待校验数据与所述校验算法中的预设输入格式进行比对,得到第二比对结果,其中,所述第二比对结果中包括所述待校验数据的输入格式是否存在异常。
4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,基于所述校验结果确定所述待校验数据的输入是否存在异常,包括以下至少之一:
在所述第一比对结果中显示所述待校验数据输入属性存在异常的情况下,确定所述待校验数据的输入存在异常;
在所述第二比对结果中显示所述待校验数据的输入格式存在异常的情况下,确定所述待校验数据的输入存在异常。
5.一种数据校验装置,其特征在于,包括:
第一确定模块,用于利用确定的校验组件对输入的待校验数据进行格式校验,得到校验结果,其中,所述校验组件中包括预设属性格式,校验所述待校验数据的校验算法,所述校验算法中包括预设输入格式;
第二确定模块,用于基于所述校验结果确定所述待校验数据的输入是否存在异常;
所述装置还用于利用确定的校验组件对输入的待校验数据进行格式校验,得到校验结果之前,确定所述校验组件,其中,所述装置通过以下方式确定所述校验组件:确定第一组件,其中,所述第一组件用于检验所述待校验数据的输入格式,所述第一组件中包括所述预设输入格式,校验所述待校验数据的 输入格式的第一校验算法;确定第二组件,其中,所述第二组件用于检验所述待校验数据的整体格式,所述第二组件中包括预设整体格式,检验所述待校验数据的整体格式的第二校验算法;将所述第一组件和第二组件的组合确定为所述校验组件,其中,所述第一组件包括在所述第二组件中;
所述装置还用于在确定所述校验组件之后,将所述第一组件注册至所述第二组件中,以使所述第一组件具备访问所述第二组件的能力;将承载所述待校验数据的输入组件与所述第一组件和所述第二组件进行绑定。
6.一种存储介质,其特征在于,所述存储介质中存储有计算机程序,其中,所述计算机程序被设置为运行时执行所述权利要求1至4任一项中所述的方法。
7.一种电子装置,包括存储器和处理器,其特征在于,所述存储器中存储有计算机程序,所述处理器被设置为运行所述计算机程序以执行所述权利要求1至4任一项中所述的方法。
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