[发明专利]一种获取发射机测试参数的方法和装置以及存储介质有效
申请号: | 201910819211.0 | 申请日: | 2019-08-31 |
公开(公告)号: | CN112448760B | 公开(公告)日: | 2022-07-29 |
发明(设计)人: | 张阔;周雷;李博睿;李胜平 | 申请(专利权)人: | 华为技术有限公司 |
主分类号: | H04B10/079 | 分类号: | H04B10/079 |
代理公司: | 深圳市深佳知识产权代理事务所(普通合伙) 44285 | 代理人: | 骆苏华 |
地址: | 518129 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 获取 发射机 测试 参数 方法 装置 以及 存储 介质 | ||
1.一种获取发射机测试参数的方法,其特征在于,包括:
对发射机发送的光信号进行波形采样,以得到采样电信号;
根据预设的初始噪声比例参数和所述采样电信号的电平幅度获得所述采样电信号对应的第一噪声量,其中,所述采样电信号的电平幅度大于最小电平且小于最大电平,所述初始噪声比例参数为最大噪声量与最小噪声量之间的比值,所述最大噪声量为所述最大电平的电信号对应的噪声量,所述最小噪声量为所述最小电平的电信号对应的噪声量,所述第一噪声量为大于所述最小噪声量且小于所述最大噪声量的噪声量;
根据所述初始噪声比例参数和理想电信号的电平幅度获得所述理想电信号对应的第二噪声量,其中,所述理想电信号与所述采样电信号具有相同的光学调制幅度,且所述理想电信号的电平幅度为所述最大电平或者所述最小电平;
其中,所述第一噪声量和所述第二噪声量用于对所述发射机进行一致性测试。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据预设的初始噪声比例参数和所述采样电信号的电平幅度获得所述采样电信号对应的第一噪声量,包括:
确定所述采样电信号的电平幅度处于所述最大电平和所述最小电平之间;
以所述最大噪声量和所述最小噪声量作为插值条件,根据所述初始噪声比例参数对所述采样电信号的电平幅度进行插值计算,得到所述第一噪声量。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述以所述最大噪声量和所述最小噪声量作为插值条件,根据所述初始噪声比例参数对所述采样电信号的电平幅度进行插值计算,得到所述第一噪声量,包括:
获取所述采样电信号在预设的采样点能容忍的噪声量σG;
通过如下方式确定所述最大电平的电信号对应的最大噪声σmax:
σmax=MσG,其中,所述M表示所述初始噪声比例参数;
确定所述最小电平的电信号对应的最小噪声量为所述σG;
在所述最大电平和所述最小电平之间量化出N个电平值,所述N个电平值都处于所述最大电平和所述最小电平之间,所述N为正整数;
使用预设的插值算法计算出所述N个电平值分别对应的N个噪声量;
确定所述采样电信号的电平幅度为所述N个电平值中的第一电平值;
根据所述N个电平值与N个噪声量的对应关系,获取与所述第一电平值对应的第一噪声量。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据预设的初始噪声比例参数和所述采样电信号的电平幅度获得所述采样电信号对应的第一噪声量,包括:
根据预设的初始噪声比例参数、所述最大噪声量和所述最小噪声量获取电平幅度与噪声量对应关系,其中,所述电平幅度与噪声量对应关系包括:大于最小电平且小于最大电平的每一个电平幅度对应的噪声量;
使用所述采样电信号的电平幅度查找所述电平幅度与噪声量对应关系,从而得到所述第一噪声量。
5.根据权利要求1至4中任一项所述的方法,其特征在于,所述对发射机发送的光信号进行波形采样,以得到采样电信号之后,所述方法还包括:
使用均衡器对所述采样电信号进行时域均衡处理,得到均衡后的电信号。
6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,所述根据预设的初始噪声比例参数和所述采样电信号的电平幅度获得所述采样电信号对应的第一噪声量,包括:
获取所述均衡器对应的均衡参数,所述均衡参数包括:所述均衡器的抽头长度和所述均衡器的抽头系数;
根据所述采样电信号的电平幅度、所述均衡参数、所述初始噪声比例参数获得所述均衡后的电信号对应的第一噪声量。
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