[发明专利]一种悬臂式双轴仿真测试转台结构

说明书

本发明公开了一种悬臂式双轴仿真测试转台结构，包括外环底座组件、内环U型框架组件、目标模拟器框架组件及悬臂式支架组件，悬臂式支架组件与底座紧固相连，其结构特征在于外环方位轴线、内环俯仰轴线、导引头中心轴线正交于直径φ0.5mm球内。本悬臂式双轴仿真测试转台结构主要用于光电导引头批量化整机性能测试，光电导引头安装固定于悬臂支架组件的导引头工装上，外环方位轴系和内环俯仰轴系带动目标模拟器在有限角度范围内进行匀速运动、点位运动、正弦运动及其它特殊仿真运动方式。该悬臂式转台结构简单、测试操作便捷、测试效率及测试精度高，满足光电导引头大批量整机性能测试需求。

技术领域

本发明属于光电制导仿真测试设备领域，涉及一种悬臂式双轴仿真测试转台结构，特别用于光电导引头的整机性能测试以及相关产品的实验室仿真、制造。

背景技术

现有光电导引头的整机性能测试主要是在五轴仿真测试转台上进行测试，测试时需先将导引头安装在五轴仿真测试转台内三轴的俯仰框架上，通过转台控制机柜将内三轴锁定在零位，其次将目标模拟器安装到五轴仿真测试转台的外两轴上，利用经纬仪校准光路后，通过转台控制机柜使外两轴带动目标模拟器进行匀速运动、点位运动、正弦运动及其它特殊运动方式，从而测试光电导引头跟踪目标的性能。现有五轴仿真测试转台结构复杂、体积庞大、控制系统复杂、控制精度低，且设备价格及维修成本高。同时由于五轴仿真测试转台运动轴的转动惯量大，测试使用过程中，超调问题突出、稳定时间长，导致测试效率低下，无法满足大批量导引头的整机性能测试需求。

因此需要一种结构简单、测试效率高，能够适用于大批量光电导引头整机性能测试的仿真测试转台结构。

发明内容

针对上述现有光电导引头测试设备存在的问题，本发明的目的在于提供一种悬臂式双轴仿真测试转台结构，能够实现光电导引头高效率、批量化的整机性能测试需求，结构简单、测试设备重量及体积小、测试设备成本低。

为实现上述目的，本发明提供如下技术方案来实现：

一种悬臂式双轴仿真测试转台结构，包括外环底座组件、内环U型框架组件、目标模拟器框架组件及悬臂式支架组件；

所述外环底座组件包括多边形底座框架、外环第一轴承组件、外环第二轴承组件、外环驱动电机、外环主轴、调平垫铁，外环第一轴承组件内圈和第二轴承内圈分别与主轴上下端紧固，外环第一轴承组件外圈和第二轴承外圈与多边形底座框架固定，外环驱动电机通过胀套固联于外环主轴中端，调平垫铁置于多边形框架底部，构成外环方位轴线Z；

所述内环U型框架组件包括内环U型框架、内环第一轴、内环第二轴、内环第一轴承组件、内环第二轴承组件、内环第一驱动电机、内环第二驱动电机、内环角度编码器、外环限位撞块、内环第一限位挡块、内环第二限位挡块、内环第一限位撞块、内环第二限位撞块，内环第一轴承组件和第二轴承组件内圈分别与内环第一轴和内环第二轴紧固，内环第一轴承组件和第二轴承组件外圈固定于内环U型框架两端、内环第一驱动电机和内环第二驱动电机通过胀套分别紧固于内环第一轴和内环第二轴，内环角度编码器安装与内环第一轴轴端，外环限位撞块紧固于内环U型框架，内环第一限位撞块和内环第二限位撞块分别紧固于内环第一轴、内环第二轴，内环第一限位挡块和内环第二限位挡块分别紧固于内环U型框架左右端，构成内环俯仰轴线Y；

所述目标模拟器框架组件包括目标模拟器U型框架、目标模拟器、目标模拟器插座、配重块，目标模拟器U型框架左右两端分别与内环第一轴和内环第二轴固连，目标模拟器安装于目标模拟器U型框架上；

悬臂式支架组件包括悬臂支架、安装板、安装板调整垫片、导引头工装、导引头、导引头插座，悬臂支架与多边形底座框架固连，安装板与悬臂支架紧固，安装板与悬臂支架之间夹有安装板调整垫片，导引头工装紧固于安装板上，构成导引头中心轴线X；

进一步的，所述悬臂式支架组件紧固于多边形底座框架上，为导引头提供精确安装定位基准；