[发明专利]一种开关以及开关线路的自动检测方法及装置

权利要求书

1.一种开关以及开关线路的自动检测方法，其特征在于，包括以下步骤：

S1，轻触开关检测时，分压电阻R1的两个接脚分别与所述开关的两个接脚相关联；

S2，INT脚连接到MCU并产生高低电平中断变化；所述INT为连接到MCU的信号输入中断脚，所述MCU内配置弱下拉电阻R3和强上拉电阻R4分别与INT脚和AD接脚对应连接；

S3，所述MCU通过所述开关轻触前和轻触时AD接脚电压来判断开关的状态；

所述分压电阻R1的选型方式满足：

VDDR1\(R1+R2+R4)*VDD-0.3V2.2V

其中，所述VDD为工作电压，0.3V二极管D1的常规压降，所述二极管D1负极与所述INT脚输入端连接，分压电阻R2的输出端与所述AD接脚输入端连接；

所述分压电阻R2的选型方式满足：

IuA(VDD-0.3V)*(R1+R2)/(R2+R4+R1)ImA

其中，所述ImA指的MCU的IO脚通过的最大电流，0.3V为二极管D2的常规压降，所述二极管D2为锗型二极管，所述二极管D2正极连接所述分压电阻R2的输入端；所述二极管D2负极连接二极管D1的正极；所述IuA指的是MCU模数转换时的最小电流；

所述AD接脚的电压V_AD计算公式：

V_AD＝VDD*(R1+R2)/(R1+R2+R4)；

计算记录正常状态和检测时所述开关轻触前和轻触时的AD接脚的电压V_AD；

轻触所述开关检测时，所述AD接脚的电压V_AD与工作电压VDD相等，表示所述开关断路；

所述开关检测之前或所述开关检测时，所述AD接脚的电压V_AD范围在正常状态下开关检测前AD接脚电压和正常状态下开关检测时AD接脚电压之间时，表示开关被氧化；

所述开关检测之前，检测记录所述AD接脚的电压V_AD范围在正常状态下开关检测前AD接脚电压和正常状态下开关检测时AD接脚电压之间时，表示开关或者开关线路上有液体浸入。

2.一种开关以及开关线路的自动检测装置，其特征在于，包括：

开关控制模块(1)，轻触开关检测时，分压电阻R1的两个接脚分别与所述开关的两个接脚相关联；

开关检测模块(2)，INT脚连接到MCU并产生高低电平中断变化；所述INT为连接到MCU的信号输入中断脚，所述MCU内配置弱下拉电阻R3和强上拉电阻R4分别与INT脚和AD接脚对应连接；所述MCU通过所述开关轻触前和轻触时AD接脚电压来判断开关的状态；

所述开关控制模块(1)输出端与所述的开关检测模块(2)的INT脚之间连接二极管D1；所述开关控制模块(1)输出端与所述的开关检测模块(2)的AD脚之间连接二极管D2和分压电阻R2；所述二极管D1和二极管D2均为锗型二极管；

所述分压电阻R1的选型方式满足：

VDDR1\(R1+R2+R4)*VDD-0.3V2.2V

其中，所述VDD为工作电压，0.3V二极管D1的常规压降；

所述分压电阻R2的选型方式满足：

IuA(VDD-0.3V)*(R1+R2)/(R2+R4+R1)ImA

其中，所述ImA指的MCU的IO脚通过的最大电流，0.3V为二极管D2的常规压降；所述IuA指的是MCU模数转换时的最小电流；

所述AD接脚的电压V_AD计算公式：

V_AD＝VDD*(R1+R2)/(R1+R2+R4)；

计算记录正常状态和检测时所述开关轻触前和轻触时的AD接脚的电压V_AD；

轻触所述开关检测时，所述AD接脚的电压V_AD与工作电压VDD相等，表示所述开关断路；

所述开关检测之前或所述开关检测时，所述AD接脚的电压V_AD范围在正常状态下开关检测前AD接脚电压和正常状态下开关检测时AD接脚电压之间时，表示开关被氧化；

所述开关检测之前，检测记录所述AD接脚的电压V_AD范围在正常状态下开关检测前AD接脚电压和正常状态下开关检测时AD接脚电压之间时，表示开关或者开关线路上有液体浸入。