[发明专利]一种高度可调用于富集分离痕量元素的工作台在审

专利信息
申请号: 201910822494.4 申请日: 2019-09-02
公开(公告)号: CN110420677A 公开(公告)日: 2019-11-08
发明(设计)人: 瞿建国;汤震宇 申请(专利权)人: 华东师范大学
主分类号: B01L9/02 分类号: B01L9/02
代理公司: 北京高沃律师事务所 11569 代理人: 张德才
地址: 200241 *** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 富集分离 可调节套管 中心支撑柱 样品接收 样品托架 架盘 圆孔 柱托 高度可调 痕量元素 固定套 底盘 底端 圆槽 实验技术 台本发明 占用空间 装置结构 工作台 上表面 装配 穿过 外部
【说明书】:

发明公开一种高度可调用于富集分离痕量元素的工作台,涉及富集分离实验技术领域,包括底盘、中心支撑柱、样品托架盘、富集分离柱托架盘和可调节套管组件,底盘安装于中心支撑柱的底端,可调节套管组件套设于中心支撑柱外部,样品托架盘固定套设于可调节套管组件的底端,富集分离柱托架盘固定套设于可调节套管组件中部,样品托架盘上表面设置有多个直径不完全相同的圆槽,圆槽用于放置样品接收杯,富集分离柱托架盘上设置有多个直径不完全相同的圆孔,圆孔用于放置富集分离柱,一个富集分离柱能够穿过一个圆孔并伸至一个样品接收杯内。该装置结构简单,装配快捷,操作简便,占用空间小,适用于不同规格的富集分离柱和样品接收杯。

技术领域

本发明涉及富集分离实验技术领域,特别是涉及一种高度可调用于富集分离痕量元素的工作台。

背景技术

目前利用ICP–MS测定痕量元素浓度或同位素比值时首先须对复杂基体样品进行富集分离。一方面可以对目标元素进行富集浓缩,提高方法的检出限;另一方面通过分离样品中共存的基体元素,纯化目标元素,避免基体效应对测定结果的影响。目前,富集分离痕量元素普遍采用柱分离法,当样品溶液流经装有离子交换树脂或特效树脂的分离柱时,目标元素被吸附在树脂上,而基体元素随溶液流出分离柱,然后选用适当的清洗液清洗残留的基体或杂质离子,最后利用合适的洗脱液洗脱待测元素,从而使待测元素与基体分离,达到富集和分离纯化的效果。例如TetsuyaYokoyama等(1999年)利用4mm ID×4.2cm微型柱装载UTEVA特效树脂分离纯化硅酸盐中铀、钍;何学贤(2001年)利用4mm ID×6cm微型柱装载AG 1-X8阴离子树脂分离纯化碳酸盐中铀、钍;戴洁(2010年)利用2.4mm ID×3.5cm微型柱装载AG 1-X8阴离子树脂分离纯化碳酸盐中铅;安亚军(2014年)使用6.4mm ID×6.2cm微型柱装载AG 50W-X12阳离子树脂分离纯化岩石样品中镁。上述用于富集分离各痕量元素的分离柱尺寸都是根据各自方法的树脂用量和分离效率确定,由于分离柱之间的规格大小差异导致富集分离不同痕量元素时需要不同的安置分离柱和接收杯的工作台或支架。因此,对于实验室分离纯化不同痕量元素时产生了诸多困难。

发明内容

为解决以上技术问题,本发明提供一种高度可调用于富集分离痕量元素的工作台,结构简单,装配快捷,操作简便,占用空间小,适用于不同规格的富集分离柱和样品接收杯。

为实现上述目的,本发明提供了如下方案:

本发明提供一种高度可调用于富集分离痕量元素的工作台,包括底盘、中心支撑柱、样品托架盘、富集分离柱托架盘和可调节套管组件,所述底盘安装于所述中心支撑柱的底端,所述可调节套管组件套设于所述中心支撑柱外部,所述样品托架盘固定套设于所述可调节套管组件的底端,所述富集分离柱托架盘固定套设于所述可调节套管组件中部,且所述富集分离柱托架盘位于所述样品托架盘上方,通过调整所述可调节套管组件能够调节所述富集分离柱托架盘的高度,所述样品托架盘上表面设置有多个圆槽,所述圆槽用于放置样品接收杯,各所述圆槽的直径不完全相同,所述富集分离柱托架盘上设置有多个圆孔,所述圆孔用于放置富集分离柱,各所述圆孔的直径不完全相同,一个富集分离柱能够穿过一个所述圆孔并伸至一个样品接收杯内。

优选地,所述圆槽与所述圆孔一一对应,位置相对应的所述圆槽的直径大于所述圆孔的直径。

优选地,所述样品托架盘和所述富集分离柱托架盘均为圆盘,多个所述圆槽沿所述样品托架盘的周向均匀分布,多个所述圆孔沿所述富集分离柱托架盘的周向均匀分布。

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