[发明专利]用于系统集成示波器以增强采样率和分辨率的方法和系统

说明书

本说明书公开了用于实施芯片集成示波器(即，芯片示波器(CS))的方法和系统，所述芯片集成示波器是通过使用RF接收路径(包括放大器、滤波器、ADC、DSP)捕获并存储信号迹线来允许用户(在DUT(被测装置)内部和外部)对RF信号进行示波的特征。在一些实施例中，本说明书公开了用于通过使用子采样技术增强这些信号迹线的采样率和分辨率的方法和系统，其中后处理将子采样迹线(具有不同的相移，例如0°、90°、180°和270°)合并为单个迹线，所述单个迹线将呈现出高于用于收集这些子采样迹线的预定采样率的采样率。

技术领域

所描述的实施例总体上涉及提供芯片集成示波器的方法和装置，并且更具体地说，涉及提供具有增强的采样率和分辨率的基于子采样的芯片集成示波器的方法和装置。

背景技术

使用如示波器等外部仪器(即，在被测装置或芯片外部)对被测装置或芯片进行示波以分析和调试转角或误差情况是非常重要的。这种仪器可以是用于定位最复杂且最不显眼的硬件和软件缺陷中的一些硬件和软件缺陷的非常强大的工具。

因此，有很强的动机开发其它方法和系统以执行对被测装置或芯片进行示波以分析和调试转角或误差情况的重要任务，其中这些其它方法和系统可以提供增强的采样率和分辨率。

发明内容

本说明书公开了用于实施芯片集成示波器(即，芯片示波器(CS))的方法和系统，所述芯片集成示波器是通过使用RF接收路径(包括放大器、滤波器、ADC(模数转换器)、DSP(数字信号处理器))捕获并存储信号迹线来允许用户(在DUT(被测装置)内部和外部)对RF信号进行示波的特征。在一些实施例中，本说明书公开了用于通过使用(重复)信号的子采样增强采样率并增强分辨率来增强这些信号迹线的分辨率和准确度的方法和系统。这些方法和系统的益处包括：(a)可以使CS输入模式与CS输出数据(即，信号迹线)同步；(b)可以在系统内生成触发程序；(c)测试信号(例如，SigGen)可以是系统的一部分。因此，可以存在允许简化、更高的准确度和更低的成本的显著优点。

在一些实施例中，本说明书公开了用于通过使用子采样技术增强这些信号迹线的采样率和分辨率的方法和系统，其中后处理将子采样迹线(具有不同的相移，例如0°、90°、180°和270°)合并为单个迹线，所述单个迹线将呈现出高于用于收集这些子采样迹线的预定采样率的采样率。在一些实施例中，如果后处理将4个子采样迹线(具有4个不同的相移0°、90°、180°和270°)合并为单个迹线，则所述单个迹线将呈现出比用于收集这4个子采样迹线的预定采样率高4倍的采样率。在一些实施例中，如果后处理将X个子采样迹线(具有X个不同的相移)合并为单个迹线，则所述单个迹线将呈现出比用于收集这X个子采样迹线的预定采样率高X倍的采样率。

本发明提供了一种用于接收RF(射频)信号并且将所述RF信号转换为数字数据样本的装置，所述装置包括：(a)数字数据存储器；(b)接收器，所述接收器被配置成向所述数字数据存储器提供重复数字数据样本，其中所述接收器包括LO(本地振荡器)，其中在采样时钟的零相移下以预定采样率收集所述重复数字数据样本，其中所述采样时钟基于所述LO；(c)相位选择器；(d)额外增强型数据存储器，所述额外增强型数据存储器被配置成存储额外重复数字数据样本，其中以所述预定采样率加上所述采样时钟的相移收集所述额外重复数字数据样本，其中所述相移由所述相位选择器控制；(e)CS(芯片示波器)控制单元，所述CS控制单元被配置成控制所述相位选择器并且使所述重复数字数据样本与所述额外重复数字数据样本同步，(f)其中通过交织所述重复数字数据样本和所述额外重复数字数据样本将所述重复数字数据样本和所述额外重复数字数据样本合并为一个单个数字数据样本，其中所述一个单个数字数据样本将呈现出高于所述预定采样率的采样率。