[发明专利]加工环境测定装置在审
申请号: | 201910823085.6 | 申请日: | 2019-09-02 |
公开(公告)号: | CN110874083A | 公开(公告)日: | 2020-03-10 |
发明(设计)人: | 上西大辅 | 申请(专利权)人: | 发那科株式会社 |
主分类号: | G05B19/401 | 分类号: | G05B19/401 |
代理公司: | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人: | 曾贤伟;郝庆芬 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 加工 环境 测定 装置 | ||
1.一种加工环境测定装置,其测定振动对加工机的加工的影响,其特征在于,
上述加工环境测定装置具备:
基准加工数据存储部,其存储了根据预先在理想的加工环境下测定的振动的时序数据而计算出的基准加工数据;
数据取得部,其至少取得通过测定安装在上述加工机的主轴上的保持器的振动的保持器部测定传感器检测出的该保持器的振动的时序数据;
分析部,其分析上述数据取得部取得的时序数据,计算表示该时序数据的特征的特征数据;
比较判定部,其对上述分析部计算出的表示上述时序数据的特征的特征数据和存储在上述基准加工数据存储部中的基准加工数据进行比较,判定上述加工机的加工环境;以及
显示部,其显示上述比较判定部的判定的结果。
2.根据权利要求1所述的加工环境测定装置,其特征在于,
上述数据取得部还取得通过测定上述加工机的主轴的振动的主轴部测定传感器检测出的该主轴的振动的时序数据、通过测定上述加工机的工作台的振动的工作台部测定传感器检测出的该工作台的振动的时序数据的至少任意一个。
3.根据权利要求1或2所述的加工环境测定装置,其特征在于,
上述分析部通过频谱分析来计算表示时序数据的特征的特征数据。
4.根据权利要求1~3的任意一项所述的加工环境测定装置,其特征在于,
上述显示部针对上述加工机的各部位,显示检测出的振动的每个频率分量的评分。
5.根据权利要求1~4的任意一项所述的加工环境测定装置,其特征在于,还具备:
原因推定数据存储部,其预先存储将与振动的原因相关的引导与检测出该振动的部位和该振动的主要频率分量关联起来所得的原因推定数据;
原因推定部,其根据上述分析部的分析的结果,通过参照上述原因推定数据存储部来推定振动的原因,
上述显示部还显示上述原因推定部推定出的振动的原因的推定结果。
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