[发明专利]一种检测待测光学模组的测距精准度的方法

权利要求书

1.一种检测光学模组的测距精准度的方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤：

选定预定复检距离；

提供放置区，所述放置区被配置为用于放置待测光学模组；

设置光学元件和标定板，所述光学元件被配置为用于将位于所述放置区的待测光学模组发射的光线反射至所述标定板，认定光线从所述放置区射至光学元件的光路距离与从所述光学元件反射至标定板的光路距离之和等于所述预定复检距离；

使位于所述放置区的待测光学模组发射光线，使光线经所述光学元件反射至所述标定板，使待测光学模组检测光线从放置区经所述光学元件射至所述标定板的距离，得到检测距离；

比较所述预定复检距离与所述检测距离的差值是否小于或等于预定误差，若是，则判断所述待测光学模组符合性能要求。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，光线从所述放置区射至光学元件的光路距离与从所述光学元件反射至标定板的光路距离之和为实际复检距离，所述预定复检距离与实际复检距离之间存在系统误差；

测量N个待测光学模组获得N个检测距离，对获得的N个检测距离进行计算得到所述系统误差，N为≥5的正整数；

对检测其它待测光学模组所获得的检测距离，消除系统误差。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，待测光学模组检测的光线从放置区经所述光学元件射至所述标定板的距离为实际检测距离；

所述实际检测距离减去所述系统误差得到所述检测距离。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述光学元件和所述标定板被配置为，能够将照射至标定板的光线反射至光学元件，进而反射回所述放置区，形成反射光路。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述标定板被配置为与所述待测光学模组处于同一条直线上，所述光学元件与所述待测光学模组间的连线与所述直线呈预定角度。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述预定角度的范围为10°～90°。

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述预定角度为45°。

8.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述待测光学模组发射光线，使光线经所述光学元件反射至所述标定板，所述光线在所述光学元件形成反射角和入射角，所述入射角和反射角的角度之和范围为60°～150°。

9.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，所述入射角和反射角之和为90°。

10.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述光学元件与所述直线间的垂直距离大于所述标定板的高度。