[发明专利]微生物碳酸盐岩的孔隙表征方法、装置及服务器

权利要求书

1.一种微生物碳酸盐岩的孔隙表征方法，其特征在于，包括：

获取用户对待分析的微生物碳酸盐岩的剖面精细观察描述；

根据所述剖面精细观察描述，在所述微生物碳酸盐岩上确定全直径岩芯样品；

对所述全直径岩芯样品进行孔隙表征和第一孔隙测试，确定厘米级孔隙的参数；

根据所述厘米级孔隙的参数，确定所述全直径岩芯样品上的取样位置；

根据所述取样位置，在所述全直径岩芯样品上取样，得到柱塞样品；

对所述柱塞样品进行第二孔隙测试，确定毫米级孔隙的参数；

根据所述毫米级孔隙的参数，确定所述柱塞样品上的取样位置；

根据所述取样位置，在所述柱塞样品上取样，得到薄片样品及扫描电镜样品；

对所述薄片样品进行第三孔隙测试，确定微米级孔隙的参数；

通过扫描电镜对所述扫描电镜样品进行第四孔隙测试，确定纳米级孔隙的参数。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，对所述全直径岩芯样品进行孔隙表征和第一孔隙测试，确定厘米级孔隙的参数的步骤，包括：

对所述全直径岩芯样品的表面孔洞缝进行孔隙表征；

对所述全直径岩芯样品进行核磁共振成像处理，得到核磁共振图像；

从所述核磁共振图像及所述表面孔洞缝的孔隙表征中确定厘米级孔隙的参数。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，对所述柱塞样品进行第二孔隙测试，确定毫米级孔隙的参数的步骤，包括：

对所述柱塞样品进行CT扫描处理，得到扫描图像；

从所述扫描图像中确定毫米级孔隙的参数。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，对所述薄片样品进行第三孔隙测试，确定微米级孔隙的参数的步骤，包括：

通过偏光显微镜对所述薄片样品进行扫描，得到显微镜孔隙图像；

从所述显微镜孔隙图像中确定微米级孔隙的参数。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

采用电子探针及阴极发光方式对所述薄片样品进行检测，得到所述微生物碳酸盐岩的沉积组构及成岩组构特征。

6.一种微生物碳酸盐岩的孔隙表征装置，其特征在于，包括：

剖面精细观察描述获取模块，用于获取用户对待分析的微生物碳酸盐岩的剖面精细观察描述；

全直径岩芯样品确定模块，用于根据所述剖面精细观察描述，在所述微生物碳酸盐岩上确定全直径岩芯样品；

厘米级孔隙测试模块，用于对所述全直径岩芯样品进行孔隙表征和第一孔隙测试，确定厘米级孔隙的参数；

第一取样位置确定模块，用于根据所述厘米级孔隙的参数，确定所述全直径岩芯样品上的取样位置；

第一取样模块，用于根据所述取样位置，在所述全直径岩芯样品上取样，得到柱塞样品；

毫米级孔隙测试模块，用于对所述柱塞样品进行第二孔隙测试，确定毫米级孔隙的参数；

第二取样位置确定模块，用于根据所述毫米级孔隙的参数，确定所述柱塞样品上的取样位置；

第二取样模块，用于根据所述取样位置，在所述柱塞样品上取样，得到薄片样品及扫描电镜样品；

微米级孔隙测试模块，用于对所述薄片样品进行第三孔隙测试，确定微米至纳米级孔隙的参数；

纳米级孔隙测试模块，用于通过扫描电镜对所述扫描电镜样品进行第四孔隙测试，确定纳米级孔隙的参数。

7.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述厘米级孔隙测试模块还用于：

对所述全直径岩芯样品的表面孔洞缝进行孔隙表征；

对所述全直径岩芯样品进行核磁共振成像处理，得到核磁共振图像；

从所述核磁共振图像及所述表面孔洞缝的孔隙表征中确定厘米级孔隙的参数。

8.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述毫米级孔隙测试模块还用于：

对所述柱塞样品进行CT扫描处理，得到扫描图像；

从所述扫描图像中确定毫米级孔隙的参数。