[发明专利]一种高精度温控方法、装置、存储介质和电子设备

说明书

本发明涉及提供一种高精度温控方法、装置、存储介质和电子设备。包括：S1、实时监测当前温度，以预设时刻的当前温度为初始温度；S2、在初始温度不满足预设目标温度时启动温控开关，并在当前温度满足预设目标温度时关闭温控开关，记录温控开关从启动到关闭所持续的第一时长；S3、获取在温控开关关闭后当前温度的变化拐点，以变化拐点对应的温度为极限温度，获取极限温度与预设目标温度的温度差值或时间差值；S4、根据第一时长与温度差值或时间差值获取第二时长；S5、在当前温度不满足预设目标温度时启动温控开关进行温控，并在持续第二时长后关闭温控开关，以第二时长为新的第一时长，返回执行步骤S3。实施本发明能够实现高精度的温度控制。

技术领域

本发明涉及温控技术领域，更具体地说，涉及一种高精度温控方法、装置、存储介质和电子设备。

背景技术

当前温控技术领域，尤其是通过控制继电器进行温控过程控制的过程，其一般通过继电器控温都是在超过目标温度时，开始启动温控，在达到目标温度时，其开始结束温控，这里由于在结束温控过程时，由于温度传递的滞后性，其温控过程可能出现在结束温控后，其温度继续变化，然后进行下一次的温控流程，因此会出现温控过程中，温度的整体波动比较大，影响整个温控过程的精度。

发明内容

本发明要解决的技术问题在于，针对现有技术的上述现有技术缺陷，提供一种高精度温控方法、装置、存储介质和电子设备。

本发明解决其技术问题所采用的技术方案是：构造一种高精度温控方法，包括：

S1、实时监测当前温度，以预设时刻的当前温度为初始温度；

S2、在所述初始温度不满足预设目标温度时启动温控开关进行温控，并在所述当前温度满足所述预设目标温度时关闭所述温控开关，记录所述温控开关从启动到关闭所持续的第一时长；

S3、获取在所述温控开关关闭后所述当前温度的变化拐点，以所述变化拐点对应的温度为极限温度，获取所述极限温度与所述预设目标温度的温度差值或时间差值；

S4、根据所述第一时长与所述温度差值或所述时间差值获取第二时长，以使所述第二时长与所述第一时长和所述温度差值或所述时间差值满足预设关系；

S5、在所述当前温度不满足预设目标温度时启动所述温控开关进行温控，并在持续所述第二时长后关闭所述温控开关，以所述第二时长为新的第一时长，返回执行所述步骤S3。

优选地，在所述步骤S4中，所述第二时长与所述第一时长和所述温度差值满足预设关系包括：

t2＝t1-K₁*Δc，其中，t2为所述第二时长，t1为所述第一时长，Δc为所述温度差值，K₁为第一预设系数。

优选地，所述第一预设系数的取值范围为0.5至1。

所述方法还包括：根据所述极限温度与所述预设目标温度的关系判断温控过程是否为过调节；

若是，则在所述步骤S4中，所述第二时长与所述第一时长和所述时间差值满足预设关系包括：t2＝t1-K₂*Δt；

若否，则在所述步骤S4中，所述第二时长与所述第一时长和所述时间差值满足预设关系包括：t2＝t1+K₂*Δt；

其中，t2为所述第二时长，t1为所述第一时长，Δt为所述时间差值，K₂为第二预设系数；

优选地，所述温控开关为继电器。

所述方法还包括：

S41、判断所述第二时长是否满足预设值，若是，则执行所述步骤S5，若否，则执行所述步骤S42；