[发明专利]一种去除光谱基线的方法

权利要求书

1.一种去除光谱基线的方法，其特征在于，包括：

步骤一，读取原始数据；

步骤二，找到基线趋势的拐点；

步骤三，拟合每个区域内的基线；

步骤四，用原始数据减去各个区域的拟合基线，实现基线校正。

2.如权利要求1所述的去除光谱基线的方法，其特征在于，所述原始数据包括若干个CCD采集数据。

3.如权利要求1所述的去除光谱基线的方法，其特征在于，所述步骤二中根据光谱强度判断公式I(i)<I(i-1)<I(i-2)且I(i)<I(i+1)<I(i+2)，找到基线趋势的拐点；其中I(i)为谱线中第i个采样点的光强值；I(i-1)为第i-1个采样点的光强值；I(i-2)为第i-2个采样点的光强值；I(i+1)为第i+1个采样点的光强值；I(i+2)为第i+2个采样点的光强值。

4.如权利要求1所述的去除光谱基线的方法，其特征在于，在所述步骤二前，所述去除光谱基线的方法还包括：

通过相邻采集点之间的强度值比较，找到谱线上所有的光强极小值所在的采集点；

通过阈值判断公式，去除肩峰以及重叠峰上的光强极小值所在的采集点。

5.如权利要求4所述的去除光谱基线的方法，其特征在于，根据光谱强度判断公式I(i)<I(i-1)<I(i-2)且I(i)<I(i+1)<I(i+2)，找到谱线上的极小值。

6.如权利要求4所述的去除光谱基线的方法，其特征在于，通过如下阈值判断公式去除肩峰以及重叠峰上的极小值：

I_{肩峰，重叠峰}>3/2*I_min；

其中，I_{肩峰，重叠峰}为肩峰，重叠峰上的光强值；I_min为所有采样点组成的光谱中的最小光强值。

7.如权利要求4所述的去除光谱基线的方法，其特征在于，拟合每个区域内的光谱基线包括：

根据所述步骤二中找到的n个拐点，将谱线划分为n-1个区域；

在每个单独区域内，基线趋势为一次或二次曲线。