[发明专利]一种驱动电路在审
申请号: | 201910828700.2 | 申请日: | 2019-09-03 |
公开(公告)号: | CN110601684A | 公开(公告)日: | 2019-12-20 |
发明(设计)人: | 艾凤明;梁兴壮;张志伟;王铮 | 申请(专利权)人: | 中国航空工业集团公司沈阳飞机设计研究所 |
主分类号: | H03K17/687 | 分类号: | H03K17/687 |
代理公司: | 11526 北京航信高科知识产权代理事务所(普通合伙) | 代理人: | 高原 |
地址: | 110035 辽*** | 国省代码: | 辽宁;21 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 驱动电路 场效应晶体管 氧化物半导体 快速二极管 齐纳二极管 电压反馈 负电压源 无源器件 有效抑制 栅极电压 电压源 电容 串扰 电阻 金氧 申请 移动 | ||
本申请涉及一种驱动电路,其包括:金氧‑氧化物半导体场效应晶体管;以及电压源、第一至第四电容、快速二极管、第一至第三电阻、第一至第三齐纳二极管。本申请的驱动电路可以有效抑制由栅极电压负移动引起的串扰现象,且驱动电路结构简单,不需要专门的负电压源和电压反馈,只需使用无源器件即可实现。
技术领域
本申请涉及一种驱动电路。
背景技术
功率器件的使用对开关变换器有着至关重要的影响,基于硅(Si)材料制成的传统功率器件在使用上受到很多限制,如耐压等级低、耐高温性弱,碳化硅(SiC)材料的出现让这一问题的解决不再局限于改变器件结构。
将碳化硅(SiC)应用在金氧-氧化物半导体场效应晶体管(MOSFET)的门极驱动电路中,以实现高开关速度,同时具有寄生谐振阻尼、栅极过电压保护和串音抑制。半桥结构中的串扰现象是指在高侧SiC MOSFET的通电转换过程中,低侧SiC MOSFET的杂散触发,反之亦然。由于器件在关断状态下的电压升高,充电电流流过其寄生栅漏电容,并在其栅电压中产生一个正尖峰。如果电压高于栅极阈值电压,这个电压尖峰可能会错误地触发高压侧MOSFET,这可能导致开关功率损耗的增加,甚至可能导致撬杆电流。
例如,在文献“L.Abbatelli,C.Brusca,and G.Catalisano,Applicationnote:Howto fine tune your SiC MOSFET gate driver to minimize losses,STMicroelectronics Co.,pp.1–17.”中提出了一种使用负偏压栅极电压的门极驱动电路,它可以使正电压尖峰发生电平偏移,而且加速了SiCMOSFET的关断。负关断电压通常由附加的负电压源提供,文献“J.WangandH.S.H.Chung,A novel RCD level shifter forelimination of spurious turn-on in the bridge-leg configuration,IEEETrans.Power Electron.,vol.30,no.2,pp.976–984,2015.”中采用电阻元件消除负电压源的移相电路。
然而以上两种方案由于电路复杂性的增加,对于体积优化和成本敏感的转换器来说并不适用。
发明内容
本申请的目的是提供了一种驱动电路,以解决或减轻背景技术中的至少一个问题。
本申请的技术方案是:一种驱动电路,其特征在于,所述驱动电路包括:
金氧-氧化物半导体场效应晶体管;以及电压源、第一至第四电容、快速二极管、第一至第三电阻、第一至第三齐纳二极管,其中,第一电容的正极和第一齐纳二极管的负极连接于电压源的正极,第一电容的负极和第二电阻的一端连接于第一齐纳二极管的正极,第二电阻的另一端和快速二极管的负极连接,第一齐纳二极管的正极和第一电阻的一端连接,第一电阻的另一端与快速二极管的正极连接,第二齐纳二极管和第三齐纳二极管反向串联,第二齐纳二极管的负极连接于快速二极管的正极,第三齐纳二极管的负极与电压源的负极连接于晶体管的源极,第三电阻的一端和快速二极管的正极连接,第三电阻的另一端和第三电容的正极连接于晶体管的栅极,第三电容的负极和电压源的负极连接,第二电容的正极和第四电容的正极连接晶体管的漏极,第四电容的负极和第三电容的负极连接电压源的负极。
在本申请中,所述金氧半场效晶体管中金属-氧化物为碳化硅SiC。
在本申请中,所述金氧半场效晶体管为N型或P型中的一种。
本申请的驱动电路可以有效抑制由栅极电压负移动引起的串扰现象,且驱动电路结构简单,不需要专门的负电压源和电压反馈,只需使用无源器件即可实现。
附图说明
为了更清楚地说明本申请提供的技术方案,下面将对附图作简单地介绍。显而易见地,下面描述的附图仅仅是本申请的一些实施例。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国航空工业集团公司沈阳飞机设计研究所,未经中国航空工业集团公司沈阳飞机设计研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201910828700.2/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:开关控制电路及控制方法
- 下一篇:一种光开关装置、照明系统