[发明专利]基于序列模式的DRAM故障关联分析方法在审

专利信息
申请号: 201910832284.3 申请日: 2019-09-04
公开(公告)号: CN112445636A 公开(公告)日: 2021-03-05
发明(设计)人: 刘睿涛;宋长明;刘沙;钱宇;李伟东;张宏宇;龚道永;吴文斌 申请(专利权)人: 无锡江南计算技术研究所
主分类号: G06F11/07 分类号: G06F11/07;G06F16/215;G06F16/22;G06F16/2458
代理公司: 苏州创元专利商标事务所有限公司 32103 代理人: 王健
地址: 214083 江苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 基于 序列 模式 dram 故障 关联 分析 方法
【权利要求书】:

1.一种基于序列模式的DRAM故障关联分析方法,其特征在于:包括以下步骤:

S11、对故障数据库中的非DRAM故障进行过滤,同时对同一时刻同一位置的相同故障进行排重,获得所需的DRAM故障数据;

S12、对S11中获得的DRAM故障数据,依次以CPU序号和故障发生时间进行排序,获得DRAM故障序列数据库;

S13、将所有的DRAM单错相关的故障类型映射并替换为DRAM_SBE(DRAM单错),将所有的DRAM多错或DRAM严重故障相关的故障类型映射并替换为DRAM_MBE(DRAM多错),并据此将S12中获得的DRAM故障序列数据库规约为只有2种故障类型(DRAM_SBE和DRAM_MBE)的故障序列数据集,建立新的DRAM故障序列数据库;

S2、采用GSP(General Sequential Patterns)算法设定支持度,扫描新的DRAM故障序列数据库,获取所有满足支持度要求的DRAM故障序列的支持度;

S3、从S2中生成的DRAM故障序列中,筛选出DRAM单错导致DRAM多错、DRAM多错导致DRAM多错的序列规则,并计算其置信度;

S4、从S3中生成的序列规则中,筛选出置信度大于置信度阈值的序列规则;

S41、如果置信度大于置信度阈值的序列规则中出现反映DRAM多错导致DRAM多错的序列规则,则表明DRAM多错与DRAM多错存在关联性,反之则表明DRAM多错与DRAM多错不存在关联性;

S42、如果置信度大于置信度阈值的序列规则中未出现反映DRAM单错与DRAM多错关联的序列规则,则表明DRAM单错不会导致DRAM多错,反之则表明DRAM单错会导致DRAM多错。

2.根据权利要求1所述的基于序列模式的DRAM故障关联分析方法,其特征在于:在S12中,获得DRAM故障序列数据库包含以下信息:CPU序号、故障发生时间、故障事件。

3.根据权利要求1所述的基于序列模式的DRAM故障关联分析方法,其特征在于:所述置信度阈值为60%或大于60%。

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