[发明专利]一种电缆导体截面积测量方法有效
申请号: | 201910833895.X | 申请日: | 2019-09-04 |
公开(公告)号: | CN110715622B | 公开(公告)日: | 2020-12-29 |
发明(设计)人: | 刘毅;沈尹扩;林福昌;李化 | 申请(专利权)人: | 华中科技大学 |
主分类号: | G01B11/28 | 分类号: | G01B11/28;G01B11/24;G06T7/11;G06T7/62 |
代理公司: | 华中科技大学专利中心 42201 | 代理人: | 曹葆青;李智 |
地址: | 430074 湖北*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 电缆 导体 截面 测量方法 | ||
1.一种电缆导体截面积测量方法,其特征在于,包括:
步骤1、采用相同放大比,分别拍摄电缆和标准棒的横截面彩色图像;
步骤2、采用超像素分割法,对每张图像聚类分割,得到多个超像素;
步骤3、基于每张图像的所述多个超像素,采用区域合并法,确定该张图像中的导体轮廓;
步骤4、清点每个所述导体轮廓中像素点的个数,并基于所述标准棒对应的横截面中导体区域面积,计算所述电缆的导体截面积,完成测量;
所述步骤2包括:
S2.1、对每张图像初始化初始超像素及每个初始超像素的聚类中心;
S2.2、确定每个聚类中心的大于其对应初始超像素大小的计算区域,计算并基于每个计算区域内每个像素到其聚类中心的距离,更新超像素;
S2.3、计算更新后每个超像素的质心,并将该质心作为该超像素的新的聚类中心,重复开始执行S2.2,直至达到迭代次数,得到多个超像素。
2.根据权利要求1所述的一种电缆导体截面积测量方法,其特征在于,所述方法还包括:
步骤0、垂直于所述电缆的中轴线,截取电缆,暴露所述电缆的横截面;垂直于所述标准棒的中轴线,截取标准棒,暴露所述标准棒的横截面。
3.根据权利要求2所述的一种电缆导体截面积测量方法,其特征在于,所述截取的长度均小于3cm。
4.根据权利要求1所述的一种电缆导体截面积测量方法,其特征在于,所述采用相同放大比具体为:在固定物距下采用相同摄像头。
5.根据权利要求1所述的一种电缆导体截面积测量方法,其特征在于,每个所述初始超像素为大小相等的正方形,则所述S2.2中,每个所述计算区域为正方形,且其边长为每个所述初始超像素的边长的2倍。
6.根据权利要求1所述的一种电缆导体截面积测量方法,其特征在于,每张图像中每个像素由R、G、B通道信息和像素坐标组成的五维矢量表示;
则所述距离为所述五维矢量之间的距离,每个所述超像素的所述质心是基于该超像素中所有像素的所述五维矢量计算得到。
7.根据权利要求1所述的一种电缆导体截面积测量方法,其特征在于,所述步骤3包括:
提取每个超像素的预设颜色的灰度值矩阵,并计算该超像素的所述灰度值矩阵下的灰度值均值,所述预设颜色为导体的颜色;
遍历每张图像中各像素的所述预设颜色的灰度值,若灰度值大于该张图像的灰度阈值,则将该灰度值对应的像素的灰度值更新为非零值,否则更新为零,其中,每张图像的所述灰度阈值为最大所述均值的预设倍数,所述预设倍数为四分之一;
基于该张图像中预设颜色对应的更新后的灰度值分布,确定该张图像中的导体轮廓。
8.根据权利要求1所述的一种电缆导体截面积测量方法,其特征在于,所述步骤4中,所述基于所述标准棒对应的横截面中导体区域面积,计算所述电缆的导体截面积,具体为:
基于所述标准棒对应的横截面中导体区域面积和所述导体轮廓中像素点的个数,计算每个像素点的所占面积,基于每个像素点的所占面积以及所述电缆对应的所述导体轮廓中像素点的个数,得到所述电缆中的导体截面积。
9.根据权利要求1至8任一项所述的一种电缆导体截面积测量方法,其特征在于,每张图像的像素数大于800万;所述电缆对应的所述导体轮廓直径与所述电缆的图像最短边长度的比例为1/2-2/3。
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