[发明专利]一种固体表面小分子物质的原位质谱定量方法

说明书

本发明公开了一种固体表面小分子物质的原位质谱定量方法，包括下述的步骤：采用微液结点采样技术，使采样探针在含待测物的固体样品表面进行第一次扫描，扫描一定的面积，然后将萃取的待测物进行质谱检测，第一次扫描得到的待测物的含量为M₁；使采样探针在固体样品表面的同一位置区域进行第二次扫描，然后将萃取的待测物进行质谱检测，第二次扫描得到的待测物的含量为M₂；将M₁和M₂带入动力学校正公式，得到固体样品在扫描区域的待测物含量。本发明提高了微液结点探针对固体样品一次采样所得到的分析物量和采样代表性，避免了在固体样品表面加标来测定微液结点采样过程的采样效率，并且提高了定量的准确度。

技术领域

本发明属于质谱检测前处理领域，具体涉及一种针对质谱原位定量检测的快速采样与定量计算的方法。

背景技术

传统的质谱定量检测方法通常需要繁琐的样品制备过程以及长时间的色谱分离过程以使得样品中的分析物选择性的提取出来并得到质谱离子源或色谱分离装置兼容的样品形态。而这些繁琐的样品处理过程是质谱分析速度慢通量小的主要原因。同时，这些过程会引入更多的检测误差和样品的分解，使得检测结果不准确。

为了提高质谱分析的速度和检测的准确度，原位质谱分析近年来发展快速。常见的原位质谱分析有解析电喷雾质谱(desorption electrospray ionization,DESI)、实时直接分析质谱(direct analysis in real time,DART)、激光烧蚀电喷雾电离(laserablation electrospray ionization,LAESI)、微液结点采样技术(liquid microjunctionsurface sampling,LMJSS)等。这些技术各有优势，其中微液结点采样技术装置简单成本低，且可直接得到液态样品，使得其可以实现采样后加标或与其他分离处理联用，方法灵活多变。但对于固体样品的原位分析，目前这些方法都存在定量困难以及定量结果不具代表性等问题。这是由于这些原位电离采样方法通常只能对微小的区域进行非消耗性的采样。这样就使得采样效率(样品在采集范围内所采集到的分析物量/该范围内原始的分析物量)很低且难以预知。同时，由于固体样品难以进行均匀的加标，使得绝对的采样效率以及质谱信号-浓度关系无法准确的通过标样实验得到并进行定量校正。目前，甚少有研究采用这些原位质谱方法进行绝对定量分析。而且在目前原位质谱的固体采样过程的研究中，还没有对其动力学传质过程的模型描述的研究和模型在定量方法上的开发和应用的研究。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是，克服以上背景技术中提到的不足和缺陷，提供一种固体表面小分子物质的原位质谱定量方法，提高采样效率、采样代表性和定量的准确度。

为解决上述技术问题，本发明提出的技术方案为：

一种固体表面小分子物质的原位质谱定量方法，包括下述的步骤：

(1)采用微液结点采样技术，使采样探针在含待测物的固体样品表面进行第一次扫描，扫描一定的面积，然后将萃取的待测物进行质谱检测，第一次扫描得到的待测物的含量为M₁；

(2)使采样探针在固体样品表面的同一位置区域进行第二次扫描，然后将萃取的待测物进行质谱检测，第二次扫描得到的待测物的含量为M₂；

(3)将M₁和M₂带入下式，得到固体样品在扫描区域的待测物含量q₀

其中M₁、M₂、q₀单位一致。

进一步的，所述固体样品中待测物的定量检测范围是从样品最表层到离样品最表层250～280μm的深度范围内，若样品本身厚度小于250μm，则定量检测范围是整个样品。