[发明专利]检测光学成像模块的对准损耗

权利要求书

1.一种成像装置，包括：

外壳；

成像光学器件，所述成像光学器件安装在所述外壳中，并且被配置为在所述外壳内的焦平面处形成位于所述外壳外部的对象的光学图像；

图像传感器，所述图像传感器包括检测器元件的矩阵，所述图像传感器定位在所述焦平面处，与所述成像光学器件对准，并且被配置为响应于入射在所述检测器元件上的光学辐射而输出电子图像信号；

至少一个发射器，所述至少一个发射器被固定在所述外壳内并且被配置为朝向所述外壳内的一个或多个反射表面发射测试光束，所述一个或多个反射表面朝向所述图像传感器反射所述测试光束；和

处理器，所述处理器被配置为处理由所述图像传感器响应于所反射的测试光束而输出的电子图像信号，以便检测所述图像传感器与所述成像光学器件的对准的变化，

其中所述处理器被配置为在检测到所述变化的量值大于预定义的限值时发起校正动作，以及

其中所检测到的变化包括所述光学图像在所述图像传感器上的偏移，并且其中所述校正动作包括处理所述电子图像信号以便补偿所述偏移。

2.根据权利要求1所述的装置，其中所述至少一个发射器被固定在与所述图像传感器相邻的位置处。

3.根据权利要求1所述的装置，其中所述一个或多个反射表面中的至少一个为所述外壳的内部表面。

4.一种成像装置，包括：

外壳；

成像光学器件，所述成像光学器件安装在所述外壳中，并且被配置为在所述外壳内的焦平面处形成位于所述外壳外部的对象的光学图像；

图像传感器，所述图像传感器包括检测器元件的矩阵，所述图像传感器定位在所述焦平面处，与所述成像光学器件对准，并且被配置为响应于入射在所述检测器元件上的光学辐射而输出电子图像信号；

至少一个发射器，所述至少一个发射器被固定在所述外壳内并且被配置为朝向所述外壳内的一个或多个反射表面发射测试光束，所述一个或多个反射表面朝向所述图像传感器反射所述测试光束；和

处理器，所述处理器被配置为处理由所述图像传感器响应于所反射的测试光束而输出的电子图像信号，以便检测所述图像传感器与所述成像光学器件的对准的变化，

其中所述一个或多个反射表面中的至少一个为所述外壳的内部表面，并且，

其中所述内部表面被配置作为椭圆形反射镜，所述内部表面聚焦所反射的测试光束以在所述图像传感器上形成预定义的几何图形，其中所述处理器被配置为响应于几何图形在所述图像传感器上的移动来检测所述对准的所述变化。

5.一种成像装置，包括：

外壳；

成像光学器件，所述成像光学器件安装在所述外壳中，并且被配置为在所述外壳内的焦平面处形成位于所述外壳外部的对象的光学图像；

图像传感器，所述图像传感器包括检测器元件的矩阵，所述图像传感器定位在所述焦平面处，与所述成像光学器件对准，并且被配置为响应于入射在所述检测器元件上的光学辐射而输出电子图像信号；

至少一个发射器，所述至少一个发射器被固定在所述外壳内并且被配置为朝向所述外壳内的一个或多个反射表面发射测试光束，所述一个或多个反射表面朝向所述图像传感器反射所述测试光束；和

处理器，所述处理器被配置为处理由所述图像传感器响应于所反射的测试光束而输出的电子图像信号，以便检测所述图像传感器与所述成像光学器件的对准的变化，

其中所述成像光学器件包括具有折射表面的一个或多个透镜，并且其中所述一个或多个反射表面包括所述透镜中的至少一个的所述折射表面中的一个或多个。

6.根据权利要求5所述的装置，其中所述成像光学器件被配置为在预定义的光谱范围内形成所述对象的所述光学图像，并且所述测试光束是在所述预定义的光谱范围之外的波长下发射的，并且其中所述折射表面中的至少一个包括被配置为在反射所述测试光束时使所述预定义的光谱范围内的光学辐射通过的涂层。