[发明专利]基于金刚石NV色心的微波线性调频测量装置及测量方法在审
申请号: | 201910839752.X | 申请日: | 2019-09-06 |
公开(公告)号: | CN112462305A | 公开(公告)日: | 2021-03-09 |
发明(设计)人: | 孙悦;马菁汀;唐倩 | 申请(专利权)人: | 北京华航无线电测量研究所 |
主分类号: | G01R33/032 | 分类号: | G01R33/032 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 100013 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 金刚石 nv 色心 微波 线性 调频 测量 装置 测量方法 | ||
1.一种基于金刚石NV色心的微波线性调频测量装置,其特征在于,包括共聚焦显微系统、金刚石NV色心(5)、磁场调控装置(9)和待测微波源(8);
所述共聚焦显微系统包括:激光光源(1)、二向色镜(2)、物镜(3)、光纤(4)、滤波片(6)、光电探测器(7);
所述金刚石NV色心(5)嵌在光纤(4)的端面上;
所述磁场调控装置(9)产生静磁场作用在金刚石NV色心(5)上;
所述待测微波源(8)产生线性调制微波场作用在金刚石NV色心(5)上。
2.一种基于权利要求1所述的基于金刚石NV色心的微波线性调频测量装置的测量方法,其特征在于,包括如下步骤:
步骤一,利用共聚焦显微系统作用在金刚石NV色心(5)上,对金刚石NV色心(5)能级上的电子进行初始化;
步骤二,利用磁场调控装置(9)产生静磁场,作为外加磁场施加到金刚石NV色心(5)上,产生能级分裂;
步骤三,待测微波源(8)产生线性调制微波场作用在金刚石NV色心(5)上,测得微波频率的调制信号随时间的变化。
3.根据权利要求2所述的一种基于金刚石NV色心的微波线性调频测量装置的测量方法,其特征在于,所述步骤三测得微波频率的调制信号随时间的变化,具体为:
通过对光电探测器(7)探测到的荧光强度的峰值高度进行实时测量,并实时计算随测量时间变化的峰值的相对高度差,获得随时间变化的振荡频率Ω,
其中,,γ为旋磁比,Bmwp为待测微波源磁场强度。
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