[发明专利]一种基于均匀五元圆阵的测向方法、装置与设备

说明书

本发明公开了一种基于均匀五元圆阵的测向方法、装置与设备。所述方法包括：计算均匀五元圆阵基于初始位置的第一代价函数，并提取所述第一代价函数目标值集合；计算均匀五元圆阵相对初始位置旋转预设角度后的第二代价函数，并提取所述第二代价函数的目标值集合；根据所述第一代价函数的目标值集合和所述第二代价函数的目标值集合，计算利用所述均匀五元圆阵测向得到的测向结果。本发明能够一定程度上降低错误解模糊的概率。

技术领域

本发明涉及测向技术领域，特别涉及一种基于均匀五元圆阵的测向方法、装置与设备。

背景技术

干涉仪测相位差测向体制普遍应用于低轨无源测向系统，是一种重要的测向体制。均匀五元圆阵由于其结构简单、实现方便、各向同性，且理论上不存在测向模糊而得到广泛应用。然而，工程应用中往往存在噪声干扰，可能导致干涉仪测向系统错误解模糊(错误选择了一个方向)，从而带来很大的测向误差。

当前关于相位差干涉仪解模糊的研究主要集中在解由于逆三角函数多解性导致的长基线干涉仪测向模糊问题。而忽略了其他因素对相位差干涉仪解模糊的影响。

发明内容

鉴于现有技术大多是解由于逆三角函数多解性导致的长基线干涉仪测向模糊导致相位差干涉仪解模糊的研究对象较为单一的问题，提出了本发明的一种基于均匀五元圆阵的测向方法、装置与设备，以便解决或至少部分地解决上述问题。

第一方面，本发明提供了一种基于均匀五元圆阵的测向方法，所述方法包括：

计算均匀五元圆阵基于初始位置的第一代价函数，并提取所述第一代价函数目标值集合；

计算均匀五元圆阵相对初始位置旋转预设角度后的第二代价函数，并提取所述第二代价函数的目标值集合；

根据所述第一代价函数的目标值集合和所述第二代价函数的目标值集合，计算利用所述均匀五元圆阵测向得到的测向结果；

其中，所述第一代价函数和所述第二代价函数均用于表示相位误差。

第二方面，本发明提供了一种基于均匀五元圆阵的测向装置，所述装置包括：

第一计算单元，计算均匀五元圆阵基于初始位置的第一代价函数，并提取所述第一代价函数目标值集合；

第二计算单元，计算均匀五元圆阵相对初始位置旋转预设角度后的第二代价函数，并提取所述第二代价函数的目标值集合；

第三计算单元，根据所述第一代价函数的目标值集合和所述第二代价函数的目标值集合，计算利用所述均匀五元圆阵测向得到的测向结果；

其中，所述第一代价函数和所述第二代价函数均用于表示相位误差。

第三方面，本发明提供了一种基于均匀五元圆阵的测向设备，包括：包括处理器和存储器；存储器，存储计算机可执行指令；处理器，所述计算机可执行指令在被执行时使处理器执行基于均匀五元圆阵的测向方法。

第四方面，本发明提供了一种计算机可读存储介质，计算机可读存储介质上存储有一个或多个计算机程序，一个或多个计算机程序被执行时实现基于均匀五元圆阵的测向方法。

综上所述，由于给定一个来波方向，均匀五元圆阵可能产生的测向模糊结果与各条基线与来波方向相对位置有很大关系，绝大多数测向模糊结果集中于少数几个方向上。本发明基于这样的特点，通过旋转均匀五元阵改变来波方向与各条基线相对位置，即使产生测向模糊，多次测向的模糊结果也往往具有离散特性，而无论基线如何旋转正确解往往是聚集于较小区间的，本发明利用这种旋转基线后，模糊解的离散特性及正确解的聚集特性，便可一定程度上降低错误解模糊的概率。

附图说明

图1为本发明一个实施例提供的一种基于均匀五元圆阵的测向方法的流程图；