[发明专利]基于备份电路的原位老化传感器及老化监测方法有效
申请号: | 201910841513.8 | 申请日: | 2019-09-06 |
公开(公告)号: | CN110456256B | 公开(公告)日: | 2021-07-13 |
发明(设计)人: | 赵天津;黄乐天;李强 | 申请(专利权)人: | 电子科技大学 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28 |
代理公司: | 成都金英专利代理事务所(普通合伙) 51218 | 代理人: | 袁英 |
地址: | 610041 四川省成*** | 国省代码: | 四川;51 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 备份 电路 原位 老化 传感器 监测 方法 | ||
1.基于备份电路的老化监测方法,其特征在于:设置与原电路组合逻辑单元相同的备份组合逻辑单元,非测试状态下,所述原电路组合逻辑单元接入两级寄存器之间正常工作,所述备份组合逻辑单元处于空闲状态;在不同时刻ti分别对所述原电路组合逻辑单元和所述备份组合逻辑单元进行测试,得到不同时刻ti下两者的总延迟值,i=0、1、2···;将tn时刻下两者的总延迟值与tm时刻下两者的总延迟值分别进行对比,nm,利用备份组合逻辑单元的对比值修正原电路组合逻辑单元的对比值,得到由时刻tm至时刻tn的原电路组合逻辑单元的老化系数λn,tn时刻组合逻辑单元的总延迟值表示为:
式中,为tn时刻组合逻辑单元的总延迟值,为tn时刻温度,为tm时刻温度,α为常数,Dpath为组合逻辑单元的路径延迟,Dloop为组合逻辑单元的反馈延迟;
修正过程包括:
获取温度增幅比:备份电路长时间处于未激活状态,其总延迟值仅受温度影响,老化系数λn为1,通过对比tn时刻备份组合逻辑单元的总延迟值与tm时刻备份组合逻辑单元的总延迟值得到温度增幅比β:
式中,为tn时刻备份组合逻辑单元的总延迟值,为tm时刻备份组合逻辑单元的总延迟值,为tn时刻备份组合逻辑单元环形振荡器计数值,为tm时刻备份组合逻辑单元环形振荡器计数值;
修正tn时刻原电路组合逻辑单元的总延迟值:原电路组合逻辑单元的总延迟值受电路老化和温度的影响,通过引入备份电路消除温度对测试值的影响,得到修正后的总延迟值:
式中,为修正后的tn时刻原电路组合逻辑单元的总延迟值,fbase为基准时钟频率,Nbase为计数持续周期,为tn时刻原电路组合逻辑单元环形振荡器计数值,为tn时刻备份组合逻辑单元环形振荡器计数值,为tm时刻备份组合逻辑单元环形振荡器计数值;
获取老化系数λn的方法为:将原电路组合逻辑单元tn时刻的总延迟值与tm时刻的总延迟值进行比较,消除反馈延迟的影响,得到路径延迟的变化量:
式中,为tm时刻原电路组合逻辑单元的总延迟值;
以时刻tm的路径延迟为基础,对后续时刻的路径老化进行测定,得到由时刻tm至时刻tn的原电路组合逻辑单元的老化系数:
式中,为tm时刻路径延迟Dpath。
2.根据权利要求1所述的基于备份电路的老化监测方法,其特征在于:对所述原电路组合逻辑单元和所述备份组合逻辑单元进行测试的方法为:
原电路组合逻辑单元测试步骤:将备份组合逻辑单元接入两级寄存器之间使电路继续正常工作,同时将原电路组合逻辑单元连接成环形振荡器;使能振荡器,对每一个振荡周期进行计数,并根据计数值计算出当前状态下原电路组合逻辑单元的总延迟值Droo;
备份组合逻辑单元测试步骤:使原电路组合逻辑单元处于两级寄存器之间使电路正常工作,将备份组合逻辑单元连接成环形振荡器;使能振荡器,对每一个振荡周期进行计数,并根据计数值计算出当前状态下备份组合逻辑单元的总延迟值Drob。
3.根据权利要求2所述的基于备份电路的老化监测方法,其特征在于:形成环形振荡器的方法为:将组合逻辑单元待测试路径的输出与使能信号连接,再接入到该路径的输入,并使所述待测试路径的输入与输出反相,将其余路径的输入接常数信号,仅激活待测试路径。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于电子科技大学,未经电子科技大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201910841513.8/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种高精度有源功分组件
- 下一篇:集成电路芯片测试系统及方法