[发明专利]用于校准射频测试室的系统和方法

权利要求书

1.一种用于校准射频测试室的系统(1)，包括：

天线阵列(10)，所述天线阵列(10)具有以三维配置进行布置的多个天线元件(11₁，11₂，…，11_N)；

多个功率测量单元(12₁，12₂，…，12_N)，所述多个功率测量单元(12₁，12₂，…，12_N)在所述多个天线元件(11₁，11₂，…，11_N)的下游；以及

处理单元(13)；

其中，所述多个功率测量单元(12₁，12₂，…，12_N)输出来自各个天线元件(11₁，11₂，…，11_N)的与由入射的测试信号产生的辐射图相对应的功率；以及

其中，所述处理单元(13)被配置为分析所述测试信号的功率分布以便计算校准。

2.根据权利要求1所述的系统，

其中，所述测试信号的方向性和入射角是预先确定的，并且所述测试信号是由一个或多个测试天线(21，22)生成的。

3.根据权利要求1或2所述的系统，

其中，所述天线阵列(10)用于接收与所述一个或多个测试天线(21，22)相对应的各个信号路径。

4.根据权利要求1至3中任一项所述的系统，

其中，所述处理单元(13)还被配置为量化在所述多个天线元件(11₁，11₂，…，11_N)处同时测量的测量输出功率的时间变化。

5.根据权利要求1至4中任一项所述的系统，

其中，所述天线阵列(10)为具有三维主辐射方向的贴片天线阵列；以及

其中，所述天线阵列(10)位于所述射频测试室(30)内的固定位置。

6.根据权利要求1至5中任一项所述的系统，

其中，所述天线阵列(10)能够沿至少一个方向动态扩展。

7.根据权利要求1至6中任一项所述的系统，

其中，所述天线阵列(10)形成三维壳体，并且所述多个功率测量单元(12₁，12₂，…，12_N)被限制在所述壳体内。

8.根据权利要求1至7中任一项所述的系统，

其中，所述系统(1)还包括控制单元(15)，所述控制单元(15)用于使所述多个天线元件(11₁，11₂，…，11_N)中的至少一个天线元件定向，以便将所述天线阵列(10)的最大增益对准在所述测试信号的入射方向上。

9.根据权利要求1至8中任一项所述的系统，

其中，所述系统(1)还包括开关矩阵(17)，所述开关矩阵(17)将所述多个功率测量单元(12₁，12₂，…，12_N)连接到所述处理单元(13)；以及

其中，所述开关矩阵(17)用于将测量的来自所述多个天线元件(11₁，11₂，…，11_N)中的每一个天线元件的功率输入到所述处理单元(13)。

10.根据权利要求1至9中任一项所述的系统，

其中，所述系统(1)还包括存储器(19)，以便存储测量的所述功率和所述校准。