[发明专利]基于LabVIEW的密封组件密封试验测控系统在审

专利信息
申请号: 201910846417.2 申请日: 2019-09-09
公开(公告)号: CN110703724A 公开(公告)日: 2020-01-17
发明(设计)人: 张宏伟;赵玉龙;郑国真;杨军;张小平 申请(专利权)人: 蓝箭航天技术有限公司
主分类号: G05B23/02 分类号: G05B23/02
代理公司: 11595 北京科石知识产权代理有限公司 代理人: 李艳霞
地址: 313000 浙江省湖*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 测控装置 试验工艺 动密封 密封 密封组件 数据采集组件 测控系统 试验参数 变频器 齿轮箱 试验器 电机 电机连接 独立控制 密封试验 试验工况 运行稳定 阀门 申请 并发 采集 清晰 安全
【说明书】:

本申请提供了一种基于LabVIEW的密封组件密封试验测控系统,其包括数据采集组件、密封测控装置、PLC、变频器、电机和齿轮箱;数据采集组件用于采集动密封试验工艺系统的试验参数并发送给密封测控装置,密封测控装置根据接收到的试验参数对动密封试验工艺系统中的阀门进行控制;密封测控装置与PLC连接,PLC通过变频器与电机连接,电机通过齿轮箱与动密封试验工艺系统中的试验器连接;动密封试验工艺系统中的试验器上放置有密封组件,动密封试验工艺系统为密封组件提供试验工况;密封测控装置基于LabVIEW软件平台能够对转速、压力和流量进行独立控制。本申请测控系统的结构清晰,运行稳定、可靠、安全。

技术领域

本申请属于测控技术领域,具体涉及一种基于LabVIEW的密封组件密封试验测控系统。

背景技术

密封试验是对浮动环和端面等密封组件的使用环境进行模拟试验,获得数据,从而对浮动环和端面等密封组件的密封性能或可靠性进行分析。常规的密封试验包括对试验产品的转速控制、压力控制和流量控制的模拟实验,采用温度变送器、压力变送器等对试验的温度、压力等参数进行测量和记录,根据测量数据结果对该密封组件的密封性能进行分析。然而,密封试验测控软件需要实现转速控制、压力控制、数据测量记录和流量控制等,各种控制直接或间接的相互关联。程序交互越多,控制越复杂,越容易影响程序的可读性和维护性,并且越容易影响程序的响应速度,严重时控制出现错误,降低密封试验结果的准确性。

发明内容

为至少在一定程度上克服相关技术中存在的问题,本申请提供了一种基于LabVIEW的密封组件密封试验测控系统。

根据本申请实施例,本申请提供了一种基于LabVIEW的密封组件密封试验测控系统,其包括数据采集组件、密封测控装置、PLC、变频器、电机和齿轮箱;

所述数据采集组件与密封测控装置连接,其用于采集动密封试验工艺系统的试验参数并发送给所述密封测控装置,所述密封测控装置根据接收到的试验参数对动密封试验工艺系统中的阀门进行控制;

所述密封测控装置与PLC连接,所述PLC通过变频器与电机连接,所述电机通过所述齿轮箱与动密封试验工艺系统中试验器连接;所述动密封试验工艺系统中的试验器上放置有密封组件,所述动密封试验工艺系统为密封组件提供试验工况;

所述密封测控装置基于LabVIEW软件平台能够对转速、压力和流量进行独立控制。

上述基于LabVIEW的密封组件密封试验测控系统还包括触摸屏,所述触摸屏与PLC连接。

上述基于LabVIEW的密封组件密封试验测控系统中,所述数据采集组件包括数据采集卡以及与所述数据采集卡连接的温度变送器、压力变送器和质量流量计;

所述温度变送器用于测量密封试验要求测点处的温度、齿轮箱轴承的温度以及润滑系统中润滑油的温度;所述压力变送器用于测量动密封试验工艺系统中储罐的压力、工艺管路的压力以及密封试验要求测点处的压力;所述质量流量计用于测量动密封试验工艺系统中工艺管路流入试验器的介质的流量、润滑系统中润滑油的流量以及试验器出口处介质的流量。

进一步地,所述数据采集组件还包括振动传感器,所述振动传感器用于检测动密封试验工艺系统中试验器的振动情况。

上述基于LabVIEW的密封组件密封试验测控系统中,所述密封测控装置包括主控模块以及与主控模块进行通信的转速控制模块、压力控制模块、流量控制模块、急停模块、连锁模块和数据记录模块;所述转速控制模块、压力控制模块、流量控制模块、急停模块、连锁模块、远程操控模块和数据记录模块由不同的消息事件构成,且各模块之间相互独立,各模块将信息统一反馈给所述主控模块,由所述主控模块处理后,再统一进行调用和支配。

上述基于LabVIEW的密封组件密封试验测控系统中,所述密封测控装置中还设置有人机交互模块,所述人机交互模块与主控模块进行通信。

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