[发明专利]一种用于多向光电器件的测试系统

说明书

本发明公开了一种用于多向光电器件的测试系统，包括：测试板、多路电转换开关和电测试仪表，测试板上设置有多个电极座，每一电极座包括多个测试引脚，每一电极座的测试引脚与多路电转换开关连接，电转换开关还与电测试仪表；电极座用于与待测试的光电器件连接，待测试的光电器件为多端口光电器件，待测试光电器件的其中一个发射端口与一电极座连接，待测光电器件的另一个发射端口与另一电极座连接。在本发明中，测试板上分布了多个电极座，可以将多端口的光电器件分别与不同的电极座连接，然后通过电开关进行电极座的选址，将被选定的电极座与相应的测试仪表连接，可以将多次测试改为一次测试完成，可以成倍地提高测试效率。

技术领域

本发明属于光通信领域，更具体地，涉及一种用于多向光电器件的测试系统。

背景技术

众所周知，半导体器件属于温度敏感型产品，而光电器件作为半导体器件的一种，自然也对工作环境温度很敏感。为了保证光电器件产品在不同温度下的工作性能，一般都会在出厂前对产品进行高低温测试。目前，对光电器件产品进行高低温测试时，主要是使用微型TEC(Thermoelectric Cooler，简写为TEC)控制台进行单颗交替测试，如图1所示。

但是上述方式对于只有一个发射端口需要测试高低温的产品比较适合，对于同一个器件有两个及两个以上发射端口都需要测试高低温性能时，那么使用上述方法进行多次重复测试，这样势必会带来测试效率的降低。

鉴于此，克服该现有技术所存在的缺陷是本技术领域亟待解决的问题。

发明内容

针对现有技术的以上缺陷或改进需求，本发明提供了一种用于多向光电器件的测试系统，其目的在于可以将多端口的光电器件分别与不同的电极座连接，然后通过电开关进行电极座的选址，将被选定的电极座与相应的测试仪表连接，可以将多次测试改为一次测试完成，可以成倍地提高测试效率，由此解决针对多端口的光电器件，需要重复测试的技术问题。

为实现上述目的，按照本发明的一个方面，提供了一种用于多向光电器件的测试系统，包括：测试板、多路电转换开关和电测试仪表，所述测试板上设置有多个电极座，每一所述电极座包括多个测试引脚，每一所述电极座的测试引脚与所述多路电转换开关连接，所述电转换开关还与所述电测试仪表；

所述电极座用于与待测试的光电器件连接，所述待测试的光电器件为多端口光电器件，所述待测试的光电器件的其中一个发射端口与一电极座连接，所述待测光电器件的另一个发射端口与另一电极座连接；

其中，通过所述多路电转换开关控制每一所述电极座的测试引脚与相应电测试仪表的通断状态，以对相应的所述待测试的光电器件进行测试。

优选地，所述电极座以阵列分布的形式设置在所述测试板上；

每一所述电极座的测试引脚被引出，并以金手指的形式设置在所述测试板的边缘，以形成待测试引脚总线，所述电测试仪表的输入端或输出端分别引出，以形成仪器仪表总线；

所述多路电转换开关分别用于连接所述待测试引脚总线和所述仪器仪表总线，通过所述多路电转换开关将所述待测试引脚总线中的一路与所述仪器仪表总线中的一路连接，以对待测试的光电器件进行测试。

优选地，所述多路光电转换开关为多个继电器，所述待测试引脚总线中的每一路通过继电器与仪器仪表总线的每一路连接，形成矩阵开关的连接形式；

其中，通过控制继电器的开合选择性将所述待测试引脚总线中的一路与所述仪器仪表总线中的一路连接，以对待测试的光电器件进行测试。

优选地，所述多路电转换开关具体第一多路电转换开关和第二多路电转换开关，所述第一多路电转换开关的一端与每一所述电极座的测试引脚连接，所述第一多路电转换开关的另一端与所述第二多路电转换开关的一端连接，所述第二多路电转换开关的另一端与相应的电测试仪表连接；