[发明专利]测试控制装置、芯片及方法

说明书

本发明实施例提供一种测试控制装置、芯片及方法，该装置包括权限分析单元、测试控制单元、第一屏蔽单元、加密单元；所述权限分析单元，用于对待验证的权限信息进行验证，并在验证通过时向所述测试控制单元发送第一触发信号；所述测试控制单元，用于在接收到所述第一触发信号、以及第一测试控制信号时，向所述第一屏蔽单元发送第一指示信号，其中，所述第一测试控制信号用于指示进入测试模式，所述第一指示信号用于指示所述第一屏蔽单元将密钥信息传输至所述加密单元。本发明实施例能够在保证密钥安全性的前提下实现对密钥故障的测试，提高基于扫描链的扫描测试的测试覆盖率。

技术领域

本发明实施例涉及集成电路技术领域，尤其涉及一种测试控制装置、芯片及方法。

背景技术

基于扫描链的扫描测试是可测试性设计中的一种常用的测试方法，能够保证很高的测试覆盖率。通过基于扫描链的扫描测试可以对加密芯片进行测试。加密芯片在加密过程需要将密钥和明文数据送入加密单元中，经过很多轮的加密操作，每一轮的加密相关信息都保存于加密单元的触发器中。攻击者可以利用基于扫描链的旁路攻击方式获取加密芯片的密钥信息。攻击者会在加密芯片处于功能模式时，进行正常的加密操作，然后切换到测试模式下，通过扫描链将保存有加密相关信息的触发器的值移出观测，以此来破解密钥信息。

现有技术中，为防止攻击者利用基于扫描链的旁路攻击方式进行密钥破解，通常采用屏蔽密钥的方法，具体是在加密芯片中添加屏蔽单元，通过控制屏蔽单元使得在功能模式下，密钥可以正常的送入加密单元中进行加密运算而不被屏蔽；在测试模式下，密钥会被屏蔽，密钥信息不能送入加密单元中参与组合逻辑运算。并且由功能模式切换到测试模式时，会对保存有加密相关信息的触发器进行复位操作，从而保证了扫描链移出的中间状态值均和密钥没有关系，攻击者无法破解密钥。

然而，现有的屏蔽密钥的方法由于在测试模式下密钥不参与加密单元内的组合逻辑运算，虽然攻击者无法通过扫描链移出的中间状态值破解密钥，但测试人员也无法基于扫描链的扫描测试对密钥故障进行测试，只能通过功能模式下的加密操作去验证密钥是否存在故障。因此，现有的屏蔽密钥的方法会导致基于扫描链的扫描测试无法进行密钥故障的测试，存在测试覆盖率的损失。

发明内容

本发明实施例提供一种测试控制装置、芯片及方法，以解决现有的屏蔽密钥的方法会导致基于扫描链的扫描测试无法进行密钥故障的测试，存在测试覆盖率的损失的问题。

第一方面，本发明实施例提供一种测试控制装置，包括：权限分析单元、测试控制单元、第一屏蔽单元、加密单元；

所述权限分析单元与所述测试控制单元连接，所述测试控制单元与所述第一屏蔽单元连接；

所述权限分析单元，用于对待验证的权限信息进行验证，并在验证通过时向所述测试控制单元发送第一触发信号；

所述测试控制单元，用于在接收到所述第一触发信号、以及第一测试控制信号时，向所述第一屏蔽单元发送第一指示信号，其中，所述第一测试控制信号用于指示进入测试模式，所述第一指示信号用于指示所述第一屏蔽单元将密钥信息传输至所述加密单元。

在一种可能的实施方式中，所述权限分析单元，还用于在所述权限信息验证未通过时，向所述测试控制单元发送第二触发信号；

所述测试控制单元，还用于在接收到所述第二触发信号、以及所述第一测试控制信号时，向所述第一屏蔽单元发送第二指示信号，其中，所述第二指示信号用于指示所述第一屏蔽单元对密钥信息进行屏蔽处理。

在一种可能的实施方式中，所述测试控制单元，还用于在接收到第二测试控制信号时，向所述第一屏蔽单元发送所述第一指示信号，其中，所述第二测试控制信号用于指示进入功能模式。

在一种可能的实施方式中，所述加密单元包括触发器单元、第二屏蔽单元，其中，所述触发器单元包括多个触发器，所述多个触发器在测试模式下形成至少一条扫描链；