[发明专利]具有亥姆霍兹谐振腔的MEMS压电超声换能器有效
申请号: | 201910851197.2 | 申请日: | 2019-09-10 |
公开(公告)号: | CN110681559B | 公开(公告)日: | 2020-12-01 |
发明(设计)人: | 孙成亮;朱伟;吴志鹏;王磊;胡博豪;林炳辉;周禹 | 申请(专利权)人: | 武汉大学 |
主分类号: | B06B1/06 | 分类号: | B06B1/06 |
代理公司: | 武汉科皓知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 42222 | 代理人: | 郑勤振 |
地址: | 430072 湖*** | 国省代码: | 湖北;42 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 具有 亥姆霍兹 谐振腔 mems 压电 超声 换能器 | ||
1.一种MEMS压电超声换能器,其特征在于,压电式超声换能器(11)形成在衬底层(1)上,该衬底层(1)内形成有亥姆霍兹谐振腔(16),亥姆霍兹谐振腔(16)的谐振频率与压电式超声换能器(11)的谐振频率一致;亥姆霍兹谐振腔(16)包括高度大于压电式超声换能器(11)最大振幅的第一空腔(6),第一空腔(6)的中部下沉形成的第二空腔(9),和压电式超声换能器(11)上的通孔(7);第一空腔(6)通过通孔(7)与外部连通。
2.根据权利要求1所述的MEMS压电超声换能器,其特征在于,压电式超声换能器(11)包括设置在衬底层(1)上以封住第一空腔(6)的压电叠层(12)或压电双晶片(10),通孔(7)贯穿压电叠层(12)或压电双晶片(10)后与第一空腔(6)连通。
3.根据权利要求2所述的MEMS压电超声换能器,其特征在于,压电叠层(12)包括从上至下依次设置的上电极(5)、压电层(4)、下电极(3)和衬底。
4.根据权利要求1-3任一项所述的MEMS压电超声换能器,其特征在于,第一空腔(6)为圆柱形、或立方体形、或长方体形。
5.根据权利要求1-3任一项所述的MEMS压电超声换能器,其特征在于,第二空腔(9)为柱状。
6.根据权利要求1-3任一项所述的MEMS压电超声换能器,其特征在于,通孔(7)为圆柱形、立方体形或长方体形。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于武汉大学,未经武汉大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201910851197.2/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。