[发明专利]一种测试装置

权利要求书

1.一种测试装置，用于对含有射频信号端子的被测装置进行测试，其特征在于：包括主体(1)，该主体内嵌设有由导体制成的射频检测体(2)，射频检测体内设有射频弹性探针(3)，射频弹性探针的外部包裹有绝缘套(4)；射频检测体内还设有多根围绕在包裹有绝缘套的射频弹性探针周围的辅助弹性探针(5)；射频检测体(2)的上端设有能分别供射频弹性探针(3)和多根辅助弹性探针(5)穿出的穿孔；射频弹性探针(3)的上端能与被测装置的射频信号端子接触，射频弹性探针的下端与射频电缆内部导体导电连接，辅助弹性探针直接与射频检测体导电接触；射频检测体的下端能与射频电缆连接。

2.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于：所述主体(1)包括面板(11)和设置在面板下方的底板(12)，所述射频检测体(2)包括嵌设在面板(11)内的上嵌件(21)和嵌设在底板(12)内的下嵌件(22)，上嵌件(21)和下嵌件(22)均由导体制成；所述上嵌件(21)内设有沿上下方向延伸的第一通孔，所述射频弹性探针(3)和包裹在射频弹性探针(3)外的绝缘套(4)沿第一通孔的轴向插设在第一通孔内；所述多根辅助弹性探针嵌设在上嵌件(21)内，并围绕在包裹有绝缘套的射频弹性探针(3)周围，同时多根辅助弹性探针(5)的下端与下嵌件(22)导电接触；所述下嵌件(22)内设有沿上下方向延伸的第二通孔，第一通孔和第一通孔同轴设置，第二通孔内设有沿第二通孔的轴向插设的下绝缘套(8)，下绝缘套(8)内设有与射频弹性探针导电接触的射频内导体(9)。

3.根据权利要求2所述的测试装置，其特征在于：所述上嵌件(21)在第一通孔顶端处形成有上补偿台阶(21a)；所述内导体(9)中部形成有下补偿台阶(9a)；射频弹性探针(3)的下端部呈锥形，且与绝缘套(4)内壁之间形成有间隙。

4.根据权利要求3所述的测试装置，其特征在于：所述射频内导体(9)下端开有供射频电缆内部导体插入的插槽(91)；所述下绝缘套下部设有防止射频内导体与射频电缆外导电壳体短路的绝缘垫片。

5.根据权利要求2或3或4所述的测试装置，其特征在于：所述面板(11)内还嵌设有低频弹性探针，所述底板(12)内对应位置设有能与低频弹性探针导电接触的低频插针(23)。

6.根据权利要求5所述的测试装置，其特征在于：所述面板(11)内还嵌设有接地弹性探针，所述底板(12)内对应位置设有能与接地弹性探针导电接触的接地插针(24)。

7.根据权利要求6所述的测试装置，其特征在于：所述主体(1)外设有金属壳体，金属壳体下方设有金属底壳，金属底壳上设有射频检测接口，射频检测体的射频内导体通过射频电缆与射频检测接口电连接；金属底壳上还设有低频检测接口，低频插针与低频检测接口通过导线导电连接；接地插针与金属壳体导电接触。

8.根据权利要求7所述的测试装置，其特征在于：所述金属壳体的上部还设有上盖，上盖与金属壳体通过卡扣活动连接；所述上盖上与被测对象对应的部位开有通孔观察窗，该通孔观察窗内设有能弹性压紧被测装置的活动垫片。

9.根据权利要求2述的测试装置，其特征在于：所述面板(11)和上嵌件(21)制成一体件，采用工程塑料材质制成。

10.根据权利要求5述的测试装置，其特征在于：所述面板(11)和上嵌件(21)采用整块金属制成，低频弹性探针部位的外围设有绝缘包裹件，形成新的独立嵌件，嵌设在面板(11)内。