[发明专利]一种硫掺杂荧光碳点及其检测铜离子的应用

权利要求书

1.一种硫掺杂荧光碳点的制备方法，其特征在于，包括如下步骤：

1）将浓硫酸与硫代苹果酸混合，进行回流反应；

2）将步骤1）所得反应物依次进行冷却、加水稀释和冰浴处理，然后加入二氯甲烷进行萃取，分离有机相并进行旋蒸，除去二氯甲烷；

3）向步骤2）所得产物中加入氢氧化铵，室温静置并进行干燥处理，即得所述硫掺杂荧光碳点；

所述硫代苹果酸与浓硫酸的固液比为(2~6) g:(80~120) mL；

所述回流反应温度为80~100℃，反应时间为3~5 h。

2.权利要求1所述制备方法制备的硫掺杂荧光碳点在铜离子检测领域的应用，其特征在于，包括如下步骤：

1）测定硫掺杂荧光碳点原始测量体系在380-530 nm范围内的荧光强度F₀；

2）测定加入不同含量铜离子后所得硫掺杂荧光碳点测量体系荧光猝灭后的荧光强度F₁；

3）计算原始荧光和猝灭后的荧光强度比值F₀/F₁，用荧光强度比值相对铜离子浓度作标准曲线，求出线性相关系数，实现对铜离子的定量检测；

步骤1）中所述硫掺杂荧光碳点原始测量体系包含硫掺杂荧光碳点和Tris-HCl缓冲液，硫掺杂荧光碳点的浓度为1×10^-6~10×10^-6 g∙L^-1；

步骤2）中所述硫掺杂荧光碳点测量体系中硫掺杂荧光碳点的浓度为1×10^-6~10×10^-6 g∙L^-1，铜离子的浓度为10~800nM。