[发明专利]校准无线保真模块射频功率的方法、装置、设备及介质

说明书

本申请提供一种校准无线保真模块射频功率的方法、装置、设备及介质。该方法包括：获取待测试芯片的型号和待测试信道，其中，所述待测试信道为所述待测试芯片的部分信道；查询是否存在与所述型号匹配的样本库，所述样本库中包括至少一个样本，每个所述样本包括每个信道以及与每个所述信道对应的发射功率；若存在与所述型号匹配的样本库，测试所述待测试信道的发射功率，得到测试结果；确定所述样本库中是否存在与所述测试结果匹配的样本；若存在与所述测试结果匹配的样本，根据所述样本确定所述待测试芯片的全部信道对应的发射功率值。本申请能够实现提高校准效率和生产效率的技术效果。

技术领域

本申请涉及无线通信技术领域，具体而言，涉及校准无线保真模块射频功率的方法、装置、设备及介质。

背景技术

目前，MTK(MediaTek.Inc，联发科技股份有限公司)芯片方案的无线通信模块中，由于电子元器件参数杂散影响，要使得该无线模块能够正常稳定工作，就需要进行射频校准。MTK方案WIFI(Wireless-Fidelity，无线保真)射频校准的方法是对802.11a/g模式54M速率的每一个信道单独进行发射功率测试，最后向该信道对应的寄存器位置写入补偿值。

然而，通过采用分别对各个信道单独进行发射功率测试校准的方法，会导致效率低、耗时较长，严重影响生产效率。

发明内容

本申请实施例的目的在于提供一种校准无线保真模块射频功率的方法、装置、设备及介质，用以提高校准效率。

第一方面，本申请实施例提供的一种，校准无线保真模块射频功率的方法，所述方法包括：获取待测试芯片的型号和待测试信道，其中，所述待测试信道为所述待测试芯片的部分信道；查询是否存在与所述型号匹配的样本库，所述样本库中包括至少一个样本，每个所述样本包括每个信道以及与每个所述信道对应的发射功率；若存在与所述型号匹配的样本库，测试所述待测试信道的发射功率，得到测试结果；确定所述样本库中是否存在与所述测试结果匹配的样本；若存在与所述测试结果匹配的样本，根据所述样本确定所述待测试芯片的全部信道对应的发射功率值。

在上述实现过程中，本申请中在查询到与待测试芯片匹配的样本库的前提下，只需要通过测试部分信道的发射功率，就可以通过样本库中的样本来快速且准确确定该待测试芯片的全部信道的发射功率，进而可以有效提高校准效率，进一步提高生产效率。

结合第一方面，本申请实施例提供了第一方面的第一种可能的实施方式，所述确定所述样本库中是否存在与所述测试结果匹配的样本，包括：确定所述样本库中的每个所述样本中与所述待测试信道对应的信道的发射功率；将所述信道的发射功率与所述测试结果进行比较，确定是否存在与所述测试结果之间的误差位于预设误差区间的样本。

在上述实现过程中，通过确定所述样本库中的每个所述样本中与所述待测试信道对应的信道的发射功率；将所述信道的发射功率与所述测试结果进行比较，确定是否存在与所述测试结果之间的误差位于预设误差区间的样本。从而准确确定出与待测试芯片匹配的样本，以便于快速确定待测试芯片其余信道的发射功率。

结合第一方面，本申请实施例提供了第一方面的第二种可能的实施方式，在查询是否存在与所述型号匹配的样本库之后，所述方法还包括：若不存在与所述型号匹配的样本库，对所述待测试芯片的全部信道进行发射功率测试，得到每个信道的发射功率。

在上述实现过程中，在没有找到与待测试芯片匹配的样本库时，依然可以通过全信道的测试方式，实现对该待测试芯片的信道进行测试，以便于完成对该待测试芯片的校准，进而可以提高校准效率。

结合第一方面的第二种可能的实施方式，本申请实施例提供了第一方面的第三种可能的实施方式，在对所述待测试芯片的全部信道进行发射功率测试，得到每个信道的发射功率之后，所述方法还包括：将所述每个信道的发射功率作为样本保存。